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龙图腾网获悉爱德万测试株式会社申请的专利试验装置、试验方法及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114764045B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111470510.1，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权试验装置、试验方法及计算机可读存储介质是由长谷川宏太郎;宫内康司;歌丸刚设计研发完成，并于2021-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本试验装置、试验方法及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：[要解决的问题]在使成为检查对象的一对LED中的一个LED发光，并由另一个LED接收光，使用通过光电效应而输出的电流的电流值来检查LED的光学特性的方法中，无法一次检查多个LED的光学特性。[解决方案]一种试验装置，包含：电连接部，电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子；光源部，对多个发光元件一起照射光；测定部，测定多个发光元件分别将被光源部照射的光进行光电转换并经由电连接部输出的光电信号；获取部，获取包含修正值的修正图，所述修正值是用来修正光源部对多个发光元件各自的位置照射的光的强度不均；及判定部，基于测定部的测定结果、及由获取部获取的修正图，判定多个发光元件各自是否良好。

本发明授权试验装置、试验方法及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种试验装置，包含： 电连接部，电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子； 光源部，对所述多个发光元件一起照射光； 测定部，测定所述多个发光元件分别将被所述光源部照射的光进行光电转换并经由所述电连接部输出的光电信号； 获取部，获取包含修正值的修正图，所述修正值是用来修正所述光源部对所述多个发光元件各自的位置照射的光的强度不均；及判定部，基于所述测定部的测定结果、及由所述获取部获取的所述修正图，判定所述多个发光元件各自是否良好； 所述判定部将所述多个发光元件中的至少1个发光元件判定为不良，所述至少1个发光元件是利用所述修正图对所测得的所述光电信号进行修正所得的修正值处于正常范围外的发光元件； 所述判定部使用如下范围作为所述正常范围，即，所述测定部自发光元件群之中改变依次成为试验对象的所述多个发光元件的组，同时进行多次测定而获得测定结果，利用所述修正图对所述测定结果中所述多个发光元件的组之间配置在相同位置的发光元件所输出的所述光电信号进行修正而获得修正值，以所述修正值所对应的统计量为基准的范围。

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