西安电子科技大学张鹏获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种基于两步法制作栅脚和栅帽的浮空T型栅的制作方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115274416B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210769785.3,技术领域涉及:H10D64/01;该发明授权一种基于两步法制作栅脚和栅帽的浮空T型栅的制作方法是由张鹏;李苗;朱青;马晓华;刘加志设计研发完成,并于2022-07-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于两步法制作栅脚和栅帽的浮空T型栅的制作方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种基于两步法制作栅脚和栅帽的浮空T型栅的制作方法,包括:选取半导体层;在半导体层上制备具有栅脚区的第一光刻胶层;在第一光刻胶层和栅脚区上制备金属层;在金属层上制备具有栅帽区的第二光刻胶层,栅帽区通过光刻曝光显影出金属层;在栅帽区制备栅帽;去除第二光刻胶层;去除栅帽两侧位于第一光刻胶层上的金属层;去除第一光刻胶层,以制备T型栅结构。本发明采用薄胶,不仅提高了光刻分辨率,而且可以做出尺寸更小的栅脚。尺寸小的栅极可以使器件频率得到大幅度的提升,满足器件在毫米波以上频段的使用。
本发明授权一种基于两步法制作栅脚和栅帽的浮空T型栅的制作方法在权利要求书中公布了:1.一种基于两步法制作栅脚和栅帽的浮空T型栅的制作方法,其特征在于,所述浮空T型栅的制作方法包括: 选取半导体层; 在所述半导体层上制备具有栅脚区的第一光刻胶层,所述栅脚区暴露所述半导体层; 在所述第一光刻胶层和所述栅脚区上制备金属层; 在所述金属层上制备具有栅帽区的第二光刻胶层,所述栅帽区通过光刻曝光显影出所述金属层,所述第二光刻胶层的烘烤温度低于所述第一光刻胶层的烘烤温度,且所述第二光刻胶层的烘烤温度与所述第一光刻胶层的烘烤温度的温度差在20摄氏度以上; 在所述栅帽区制备栅帽,通过电镀工艺在所述栅帽区制备栅帽; 去除所述第二光刻胶层,使用丙酮和乙醇清洗去除所述第二光刻胶层,并进行吹干处理; 去除所述栅帽两侧位于所述第一光刻胶层上的金属层; 去除所述第一光刻胶层,以制备T型栅结构;使用超声清洗去除所述第一光刻胶层。
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