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龙图腾网获悉无锡中微亿芯有限公司申请的专利一种基于分区调试内核电压的FPGA设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115562929B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211302287.4，技术领域涉及：G06F11/26；该发明授权一种基于分区调试内核电压的FPGA设计方法是由单悦尔;徐彦峰;范继聪;耿杨设计研发完成，并于2022-10-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于分区调试内核电压的FPGA设计方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于分区调试内核电压的FPGA设计方法，涉及FPGA技术领域，该方法将包括芯片内部电路以及多个供电区域的芯片硬件设计对应的码流并下载到FPGA芯片上，每个供电区域用于将获取到的内核电压提供给对应的局部用电区域，当芯片在所有供电区域获取到基础电压值的内核电压的状态下无法正常工作时，通过芯片的供电管脚调节至少一个供电区域获取到的内核电压，直至芯片正常工作，或者直至确定存在故障的局部用电区域。该方法通过调节多个供电区域的内核电压可以使得芯片得以正常工作或者可以定位到故障区域，而且分区调试的方法灵活度较高，更易于调试使得芯片可以正常工作，或者可以更准确的定位到故障区域。

本发明授权一种基于分区调试内核电压的FPGA设计方法在权利要求书中公布了：1.一种基于分区调试内核电压的FPGA设计方法，其特征在于，所述设计方法包括： 获取芯片硬件设计，所述芯片硬件设计包括芯片内部电路以及多个供电区域，每个供电区域对应所述芯片内部电路的局部用电区域，每个供电区域用于将供电输入端获取到的内核电压提供给对应的局部用电区域； 生成所述芯片硬件设计对应的码流并下载到FPGA芯片上，每个供电区域的供电输入端连接至所述FPGA芯片的供电管脚； 当所述FPGA芯片在所有供电区域获取到基础电压值的内核电压的状态下无法正常工作时，通过所述FPGA芯片的供电管脚调节至少一个供电区域获取到的内核电压，直至所述FPGA芯片正常工作，或者直至确定所述FPGA芯片中存在故障的局部用电区域； 其中，调节至少一个供电区域获取到的内核电压的方法包括：控制所有供电区域的内核电压按照预定电压变化模式进行升压或降压，直至所述FPGA芯片正常工作，或者直至内核电压达到所述预定电压变化模式对应的阈值电压而所述FPGA芯片仍然不能正常工作时，确定所述FPGA芯片的芯片内部电路存在与所述预定电压变化模式对应的故障；按照预定策略控制部分供电区域的内核电压保持为基础电压值、其余部分供电区域的内核电压按照所述预定电压变化模式进行变化，直至所述FPGA芯片正常工作，或者直至确定存在与所述预定电压变化模式对应的故障的局部用电区域； 其中，控制供电区域的内核电压按照预定电压变化模式进行升压或降压的方法包括： 控制供电区域的内核电压从所述基础电压值开始逐步升压，直至所述FPGA芯片正常工作，或者直至内核电压达到上限阈值电压而所述FPGA芯片仍然不能正常工作时，确定所述FPGA芯片的芯片内部电路存在不满足建立时间约束的故障；以及，控制供电区域的内核电压从所述基础电压值开始逐步降压，直至所述FPGA芯片正常工作，或者直至内核电压达到下限阈值电压而所述FPGA芯片仍然不能正常工作时，确定所述FPGA芯片的芯片内部电路存在不满足保持时间约束的故障。

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