中国科学院深圳先进技术研究院梁栋获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院深圳先进技术研究院申请的专利一种低场磁共振快速成像方法、终端设备及计算机存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115754857B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111032442.0，技术领域涉及：G01R33/48；该发明授权一种低场磁共振快速成像方法、终端设备及计算机存储介质是由梁栋;朱庆永;崔卓须;刘元元;郭一凡;朱燕杰;刘新;郑海荣设计研发完成，并于2021-09-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种低场磁共振快速成像方法、终端设备及计算机存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供了一种低场磁共振快速成像方法、终端设备以及计算机存储介质。该低场磁共振快速成像方法包括：读取关于目标图像的欠采样成像数据；基于低场数据特性构建卷积特征子空间投影正则化模型；基于预设算法对所述卷积特征子空间投影正则化模型并行求解，得到高质量的磁共振图像。通过上述方式，本申请的低场磁共振快速成像方法利用卷积特征子空间投影正则化模型以及预设算法，能够加速得到可比拟高场的磁共振图像，有利于提高临床应用效率。
本发明授权一种低场磁共振快速成像方法、终端设备及计算机存储介质在权利要求书中公布了：1.一种低场磁共振快速成像方法，其特征在于，所述低场磁共振快速成像方法包括： 读取关于目标图像的欠采样成像数据； 基于低场数据特性构建卷积特征子空间投影正则化模型； 基于预设算法对所述卷积特征子空间投影正则化模型并行求解，得到高质量的磁共振图像； 其中，所述基于低场数据特性构建卷积特征子空间投影正则化模型，包括： 获取所述欠采样成像数据的子空间，及其子空间对应的基函数； 计算所述基函数的转置； 利用所述欠采样成像数据、子空间对应的基函数及其转置构建所述卷积特征子空间投影正则化模型； 其中，所述卷积特征子空间投影正则化模型为： 其中，为所述目标图像，为一组二维卷积滤波核，ui为第i个子空间投影系数，vi为第i个正交子空间，λ和γ为权重参数，zi为第i个卷积特征。
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