大连藏龙光电子科技有限公司武晓伟获国家专利权
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龙图腾网获悉大连藏龙光电子科技有限公司申请的专利一种高速光通信器件和芯片跳模测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115765859B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211238385.6，技术领域涉及：H04B10/079；该发明授权一种高速光通信器件和芯片跳模测试方法是由武晓伟;洪振海;徐泽驰;邹丽丽设计研发完成，并于2022-10-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种高速光通信器件和芯片跳模测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试技术领域。通过扫描待测件PIV曲线，再计算曲线的前光功率kink值和背光电流kink值；根据测得的kink最大值，判断待测件是否出现跳模现象。本发明在计算kink值时使用了线性拟合算法，并确定了三组涵盖应用的所有调节范围的测试条件，且可以保证所有可能发生的跳模故障均能显示在PIV曲线上。本发明公开的方法对于跳模故障的筛选相比于现有技术更加彻底，不存在漏筛现象。可保证产品后工序加工以及使用效果，无跳模现象产生，较好的杜绝了有跳模隐患的产品流出。
本发明授权一种高速光通信器件和芯片跳模测试方法在权利要求书中公布了：1.一种高速光通信器件和芯片跳模测试方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、扫描待测件PIV曲线；管芯温度选取25‑55℃，电吸收调制器反向偏压EA选取‑1.1V到‑0.1V； S2、通过线性拟合算法计算所述S1步骤测得的曲线的前光功率kink值和背光电流kink值； 线性拟合算法将电流区间按照ΔI=0.5mA的间隔细分成N个小区间，然后应用线性拟合法计算每一个小区间内的斜率SEi，得到N个SEi；再通过线性拟合计算整个扫描电流区间的SE，然后计算每个间隔电流区间内SEi与SE的比值，得到每个小区间的kink值kinki=SEiSE，即kink1到kinkN，然后在每个小区间的kinki值中寻找最大值kinkmax，然后对应出kinkmax的电流Ikink=I[kinkmax]； S3、根据S2步骤测得的所述kinkmax，前光kink值标准设定为±50%以内，背光电流kink值标准定位±30%以内，判断前光功率和背光电流kink值是否符合标准。
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