买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉上海安理创科技有限公司申请的专利芯片老化测试设备和测试工艺获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115902594B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310100286.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片老化测试设备和测试工艺是由孙黎明;舒珍珍;梁正永;李飞阳设计研发完成，并于2023-02-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片老化测试设备和测试工艺在说明书摘要公布了：本申请涉及一种芯片老化测试设备和测试工艺，老化箱包括连通的测试腔室和转接腔室，转接腔室的高度比测试腔室的高度小，测试腔室和转接腔室之间设有可开闭的密封帘，转接腔室转动连接有柜门；测试组件包括底座和测试架，测试架活动安装于底座，测试架具有多个测试板，各测试板上均设有多个用于安装芯片的安装位；测试架位于测试状态时，多个测试板在上下向间隔设置；测试架位于转接状态时，多个测试板在上下向间隔设置，且相邻两个测试架的间距比位于测试状态时的间距小；测试架位于码放状态时，多个测试板在水平面上齐平；驱动机构安装于底座，驱动测试架在测试状态和转接状态之间切换。本申请具有减少老化测试过程中资源的浪费的效果。

本发明授权芯片老化测试设备和测试工艺在权利要求书中公布了：1.一种芯片老化测试设备，其特征在于，包括： 老化箱100，包括连通的测试腔室110和转接腔室120，所述转接腔室120的高度比所述测试腔室110的高度小，所述测试腔室110和所述转接腔室120之间设有可开闭的密封帘，以隔离或连通所述测试腔室110和所述转接腔室120，所述转接腔室120转动连接有柜门121； 测试组件200，包括底座210和测试架220，所述测试架220活动安装于所述底座210，所述测试架220具有多个测试板1，各所述测试板1上均设有多个用于安装芯片的安装位11，所述测试架220具有测试状态、转接状态和码放状态； 所述测试架220位于所述测试状态时，多个所述测试板1在上下向间隔设置；所述测试架220位于所述转接状态时，多个所述测试板1在上下向间隔设置，且相邻两个所述测试板1的间距比位于所述测试状态时的间距小；所述测试架220位于所述码放状态时，多个所述测试板1在水平面上齐平；以及驱动机构300，安装于所述底座210，驱动所述测试架220在所述测试状态和所述转接状态之间切换。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海安理创科技有限公司，其通讯地址为：201900 上海市宝山区真陈路898号2幢二楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。