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龙图腾网获悉龙芯中科(西安)科技有限公司申请的专利内存时钟相位确定方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115981939B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211676883.9，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权内存时钟相位确定方法、装置、电子设备及存储介质是由余涛;段志伟设计研发完成，并于2022-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本内存时钟相位确定方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明实施例提供了一种内存时钟相位确定方法和装置。方法包括：根据内存时钟相位的预设待测试值集合中的第一待测试值和第二待测试值，分别对内存进行第N组测试，得到两个测试结果，根据两个测试结果中报错的数量、第一待测试值和第二待测试值，确定第N+1组测试的待测试值，根据第N+1组测试的待测试值，确定通过测试的目标值，使得利用内存时钟相位影响报错的数量的特性，根据第N组测试的测试结果中的报错的数量，自动确定第N+1组测试的待测试值，从而较快缩小测试的范围，更快的寻找到目标值，减少了内存的内存时钟相位的参数调试的耗时，而且解决了对于贴片颗粒内存以及DDR2内存无法自动训练的问题，使内存时钟相位的自动适配的适用范围更加广泛。

本发明授权内存时钟相位确定方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种内存时钟相位确定方法，其特征在于，包括： 根据内存时钟相位的预设待测试值集合中的第一待测试值和第二待测试值，分别对内存进行第N组测试，得到对应的第一测试结果和第二测试结果；其中，所述N为大于等于1的整数； 根据所述第一测试结果和第二测试结果中报错的数量以及所述第一待测试值和第二待测试值，确定第N+1组测试的内存时钟相位的待测试值； 根据所述第N+1组测试的内存时钟相位的待测试值，确定通过测试的内存时钟相位的目标值； 所述根据所述第一测试结果和第二测试结果中报错的数量以及所述第一待测试值和第二待测试值，确定第N+1测试的内存时钟相位的待测试值包括： 比较所述第一测试结果和第二测试结果中报错的数量； 在两个测试结果中报错的数量不相等的情况下，将所述第一待测试值和第二待测试值的平均值，以及所述第一待测试值和第二待测试值中报错数量少的待测试值，作为所述第N+1组测试的内存时钟相位的两个待测试值； 在两个测试结果中报错的数量相等的情况下，将所述第一待测试值和第二待测试值的平均值，作为第N+1组测试的内存时钟相位的待测试值。

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