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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利待测器件DUT异常识别方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116008787B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310071036.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权待测器件DUT异常识别方法、装置及设备是由张群洪设计研发完成，并于2023-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本待测器件DUT异常识别方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本公开提供了一种待测器件DUT异常识别方法、装置及设备，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：获取多个被测芯片的原始测试数据，原始测试数据通过多个DUT对部分被测芯片执行不同测试项得到的测试数据；根据原始测试数据，得到目标测试项的平均失效率；根据原始测试数据，得到目标DUT执行目标测试项的DUT失效率；若DUT失效率与平均失效率满足预设条件，则判定目标DUT为异常DUT。本公开提供的待测器件DUT异常识别方法、装置及设备，通过测试项失效率直接、准确地反馈失效情况，无遗漏，消除产品本身带来的误判，识别精度高。

本发明授权待测器件DUT异常识别方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种待测器件DUT异常识别方法，其特征在于，包括： 获取多个被测芯片的原始测试数据，其中，所述原始测试数据包括多个DUT的测试数据，各个DUT的测试数据包括所述多个被测芯片中的部分被测芯片的测试数据，所述部分被测芯片的测试数据为所述各个DUT执行不同测试项测试得到的； 根据所述原始测试数据，得到目标测试项的平均失效率，包括： 从所述原始测试数据中获取执行所述目标测试项的被测芯片的第一数量； 从所述原始测试数据中获取执行所述目标测试项且测试结果为失效状态的被测芯片的第二数量； 根据所述第一数量和所述第二数量，确定所述目标测试项的平均失效率，其中，所述目标测试项是对所述被测芯片进行的任一项测试项目； 根据所述原始测试数据，得到目标DUT执行所述目标测试项的DUT失效率，包括： 从所述原始测试数据中获取所述目标DUT执行所述目标测试项的被测芯片的第三数量； 从所述原始测试数据中获取所述目标DUT执行所述目标测试项且测试结果为失效状态的被测芯片的第四数量； 根据所述第三数量和所述第四数量，确定所述目标DUT执行所述目标测试项的DUT失效率，其中，所述目标DUT是所述多个DUT中的任一个； 若所述DUT失效率与所述平均失效率满足预设条件，则判定所述目标DUT为异常DUT。

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