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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116341432B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310340693.8，技术领域涉及：G06F30/3308；该发明授权针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法是由宁嘉豪;徐长卿;刘毅;杨银堂设计研发完成，并于2023-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法，用于解决大规模集成电路寄存器单元的单粒子效应仿真中仿真时间消耗与仿真故障覆盖率存在矛盾的技术问题。本方法基于多寄存器单元故障注入模型，采用全部寄存器单元的遍历故障注入文件集合仿真的方式，最大程度地发现待测电路中单粒子效应引起故障的情况；再对非使能寄存器单元和使能寄存器单元的寄存器关联组对应的故障注入文件集合中的无效故障注入文件进行删减，空间维度筛查整个仿真周期非工作寄存器单元以及从时间维度筛查指定寄存器非工作时间，大幅缩减仿真的时间与空间成本，满足大规模宇航集成电路设计阶段的单粒子故障仿真和评估需求。

本发明授权针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法在权利要求书中公布了：1.一种针对寄存器注错单粒子效应仿真的等效遍历故障注入方法，其特征在于，包括以下步骤： 1]构建多寄存器单元故障注入模型1.1]根据待测电路门级网表获取待测电路全部寄存器单元，根据逻辑综合工艺库获取待测电路全部寄存器单元对应的标准单元结构；根据待测电路全部寄存器单元以及待测电路全部寄存器单元对应的标准单元结构分析出待测电路全部寄存器单元前级连线；根据仿真测试程序获取全部仿真周期有效沿； 1.2]对于待测电路门级网表中任意寄存器单元前级连线，根据该寄存器单元前级连线名称寻找共用该寄存器前级连线的全部寄存器单元，将这些寄存器单元定义为寄存器关联组； 1.3]对于待测电路门级网表中任意寄存器关联组，任意仿真周期有效沿，将寄存器关联组中每个寄存器单元的输入端口视为故障注入位置，将该仿真周期有效沿视为故障注入时刻，根据故障注入位置与故障注入时刻构建多寄存器单元故障注入模型,生成该故障注入位置与该故障注入时刻的寄存器故障注入文件； 2]将全部寄存器关联组和全部仿真周期有效沿进行组合，并通过多寄存器单元故障注入模型生成全部寄存器单元的遍历故障注入文件集合； 3]删减全部寄存器单元的遍历故障注入文件集合中的无效故障注入文件将待测电路全部寄存器单元分为非使能寄存器单元和使能寄存器单元两类；分别对非使能寄存器单元和使能寄存器单元构建相应的删减规则，以对非使能寄存器单元和使能寄存器单元的寄存器关联组对应的故障注入文件集合中的无效故障注入文件进行删减；所述非使能寄存器单元的删减规则为：通过无故障注入仿真获取待测电路全部寄存器单元在仿真测试程序下的翻转列表；若翻转列表中相应寄存器单元在全部仿真周期有效沿内不发生翻转，则该寄存器单元所在的寄存器关联组对应的故障注入文件为无效故障注入文件；若相应寄存器单元在全部仿真时钟有效沿内发生了一次及一次以上的翻转，则从仿真起始到第一次翻转之间的仿真周期有效沿内，该寄存器单元所在的寄存器关联组对应的故障注入文件为无效故障注入文件；所述使能寄存器单元删减规则为：通过无故障注入仿真获取待测电路全部使能寄存器单元在仿真测试程序下的使能有效区间列表；若使能有效区间列表中相应使能寄存器单元的使能输入端处于非有效的仿真周期有效沿内，则将这些故障注入时刻该使能寄存器单元所在的寄存器关联组对应的故障注入文件为无效故障注入文件； 4]根据删减后的全部寄存器单元的遍历故障注入文件集合，完成全部寄存器单元的等效遍历故障注入。

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