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北京大学汪洋获国家专利权

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龙图腾网获悉北京大学申请的专利一种原位测量固体中电子超快动力学的全光学测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116735500B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310730613.X,技术领域涉及:G01N21/17;该发明授权一种原位测量固体中电子超快动力学的全光学测量方法是由汪洋;吴成印;高靖松;刘煜;刘运全设计研发完成,并于2023-06-20向国家知识产权局提交的专利申请。

一种原位测量固体中电子超快动力学的全光学测量方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种原位测量固体中电子超快动力学的全光学测量方法。本发明采用探测光产生高次谐波,泵浦光激发样品引发电子非平衡动力学,并在泵浦光光路上设置光脉冲延时线,控制泵浦光与探测光的相对延时,得到加载了热电子冷却信息的不同相对延时下的各阶次的归一化高次谐波光谱积分强度,分析得到样品的性质;高次谐波产生的整个过程在亚光学周期时间尺度内完成,并且光学频率梳能够跨越极宽能量的能量范围,具有超高时间分辨和超宽能量响应的优势;克服了现有技术对测量仪器苛刻的应用场景限制;弥补了瞬态光谱技术窄的能量可探测范围的不足;为同时满足低环境限制、高灵敏度、宽能量范围以及更经济实惠的电子超快动力学原位测量提供了工具。

本发明授权一种原位测量固体中电子超快动力学的全光学测量方法在权利要求书中公布了:1.一种原位测量固体中电子超快动力学的全光学测量方法,其特征在于,所述全光学测量方法包括以下步骤: 1固体材料的样品设置在高次谐波产生腔中; 2采用低光子能量的飞秒激光作为探测光,探测光的光子能量低于待探测的热电子冷却所覆盖的能量范围,以保证探测光产生的高次谐波光子能量覆盖待探测的热电子冷却所覆盖的能量范围,探测光经第一聚焦透镜聚焦至样品上,产生高次谐波; 3采用高光子能量的飞秒激光作为泵浦光,泵浦光的光子能量大于待探测的热电子冷却所覆盖的能量范围,在泵浦光光路上设置光脉冲延时线,泵浦光经过光脉冲延时线,由第二聚焦透镜聚焦至样品上,通过调节光脉冲延时线,调节泵浦光光程,精确控制泵浦光到达高次谐波产生腔中的样品上的时间,以控制泵浦光与探测光的相对延时; 4泵浦光通过光激发向样品与泵浦光的光子能量相匹配的能带的态注入热电子,引发电子非平衡动力学,即热电子随着时间逐渐冷却; 5当热电子冷却到样品能产生高次谐波发射的能带的态时,热电子占据高次谐波发射的能带的态;电子是费米子,已被热电子占据的态无法接收用于产生高次谐波的电子,导致与这些态相匹配的高次谐波受到抑制;随着热电子冷却,能带的态从高能到低能依次被占据,并对不同阶次的高次谐波依次产生抑制;当热电子的能量冷却至对应阶次的高次谐波的能带的态时,对此阶次的高次谐波的抑制达到最强,从而在高次谐波中加载了热电子的冷却信息; 6高次谐波经高次谐波聚焦腔聚焦后至谐波探测腔,由密封安装在谐波探测腔上的图像采集装置接收,拍摄记录得到高次谐波光谱,高次谐波光谱由多个阶次高次谐波组成,并传输至计算机; 7在泵浦光光路上设置快门,快门连接至计算机,在一个相对延时下,计算机控制快门开启,图像采集装置拍摄记录有泵浦光的高次谐波光谱,有泵浦光的高次谐波光谱中的高次谐波中加载了热电子的冷却信息;接着,控制快门关闭,图像采集装置拍摄记录无泵浦光的高次谐波光谱,无泵浦光的高次谐波光谱中的高次谐波中没有加载了热电子的冷却信息;在同一个相对延时下有泵浦光和无泵浦光的高次谐波光谱构成一组测量,将有泵浦光和无泵浦光的高次谐波光谱对不同阶次分别做积分,得到各阶次的有泵浦光和无泵浦光的高次谐波光谱积分强度,二者做比值,得到不受探测光波动影响的加载了热电子冷却信息的一个相对延时下的各阶次的归一化高次谐波光谱积分强度,反映了电子非平衡动力学对高次谐波特征性影响; 8在完成一个相对延时下的一组测量后,计算机通过控制光脉冲延时线精确改变泵浦光与探测光的相对延时,重复上述步骤7多次,从而得到多个相对延时下的各阶次的归一化高次谐波光谱积分强度; 9计算机分析各个相对延时下的各阶次的归一化高次谐波光谱积分强度,以泵浦光与探测光的相对延时为横坐标,以各阶次的归一化高次谐波积分光谱强度为纵坐标,构成各阶次的归一化高次谐波光谱积分强度随泵浦光与探测光的相对延时曲线,每一阶次的归一化高次谐波光谱积分强度构成一条独立的曲线,通过观察各阶次的归一化高次谐波光谱积分强度随泵浦光与探测光的相对延时曲线,得到各阶次高次谐波光谱积分强度的抑制达到极值的时间,得到热电子能量的冷却时间,从而得到样品的材料性质。

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