昆明理工大学王春建获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网获悉昆明理工大学申请的专利一种适用于纳米材料晶粒尺寸的计算方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116858868B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310844538.X,技术领域涉及:G01N23/2055;该发明授权一种适用于纳米材料晶粒尺寸的计算方法是由王春建;陈河设计研发完成,并于2023-07-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种适用于纳米材料晶粒尺寸的计算方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种适用于纳米材料晶粒尺寸的计算方法,属于晶粒尺寸测量技术领域。本发明通过选用两种不同靶材做X射线衍射测量,获得衍射峰半高宽和仪器半高宽,然后分别按峰形遵循柯西函数分布和高斯函数分布计算,将两种分布时的样品半高宽分别代入Scherrer公式计算纳米晶粒尺寸,比较偏差大小,来确定纳米材料晶粒尺寸的计算方式,所述晶粒尺寸的计算方法得到的材料晶粒尺寸准确率高,解决了传统纳米材料晶粒尺寸测量存在的结果偏差大的问题。
本发明授权一种适用于纳米材料晶粒尺寸的计算方法在权利要求书中公布了:1.一种适用于纳米材料晶粒尺寸的计算方法,其特征在于,包括以下步骤: 1选用Cu靶材和其他材质的靶材分别对纳米材料进行X射线衍射分析,获得X射线衍射图谱,根据X射线衍射图谱提供的2θ位置测量其衍射峰半高宽,分别记为BCu、B其他;然后选用标准样品测量仪器半高宽b; 2将步骤1得到的BCu、B其他和仪器半高宽b,根据公式1:β=B‑b,分别得到样品半高宽βCu‑1、β其他‑1; 3将步骤1得到的BCu、B其他和仪器半高宽b,根据公式2:分别得到样品半高宽βCu‑2、β其他‑2;式1和式2中,β为样品半高宽,B为衍射峰半高宽,b为仪器半高宽; 4将样品半高宽βCu‑1、β其他‑1、βCu‑2、β其他‑2,根据公式3:D=Kλβcosθ,分别得到晶粒尺寸DCu‑1、D其他‑1、DCu‑2、D其他‑2;其中式3中,K为Scherrer常数,λ为X射线的波长,β为样品半高宽,D为晶粒尺寸; 5将晶粒尺寸DCu‑1和D其他‑1、晶粒尺寸DCu‑2和D其他‑2按照式4:分别得到计算偏差δ1和δ2;式4中,δ为晶粒尺寸偏差;DCu为铜靶下的纳米材料晶粒尺寸;D其他为其他靶材下的纳米材料晶粒尺寸; 6当δ1<δ2时,纳米材料晶粒尺寸为公式5:B‑bcosθλ=1D+4εsinθλ; 当δ1≥δ2时,纳米材料晶粒尺寸为公式6: 式5‑6中B为衍射峰的半高宽,b为仪器半高宽,λ为X射线的波长,D为纳米材料的晶粒尺寸,ε为微观应变。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人昆明理工大学,其通讯地址为:650093 云南省昆明市一二一大街文昌路68号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励