武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司罗显高获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请的专利一种显示面板波纹缺陷检测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117152519B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311125858.6，技术领域涉及：G06V10/764；该发明授权一种显示面板波纹缺陷检测方法及装置是由罗显高;陈武;帅敏设计研发完成，并于2023-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种显示面板波纹缺陷检测方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种显示面板波纹缺陷检测方法及装置，涉及显示面板综合测试技术领域，该方法包括以下步骤：对显示面板波纹图像的感兴趣区域ROI进行倾斜校正和畸变校正；对倾斜校正和畸变校正后的校正图像进行增强处理；计算增强处理后的ROI内所有缺陷的位置信息，设置周期性变化的最小像素距离度量相邻缺陷，以对缺陷进行周期性判定。本发明可以降低检测成本、提高检测效率。
本发明授权一种显示面板波纹缺陷检测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种显示面板波纹缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 对显示面板波纹图像的感兴趣区域ROI进行倾斜校正和畸变校正； 对倾斜校正和畸变校正后的校正图像进行增强处理； 计算增强处理后的ROI内所有缺陷的位置信息，设置周期性变化的最小像素距离度量相邻缺陷，以对缺陷进行周期性判定； 所述计算增强处理后的ROI内所有缺陷的位置信息，设置周期性变化的最小像素距离度量相邻缺陷，以对缺陷进行周期性判定，包括： 确定增强处理后的ROI内所有缺陷的横纵坐标和对应序号； 计算相邻缺陷横纵坐标的差分值，确定满足横坐标差分值大于缺陷的平均宽度，且纵坐标差分值大于缺陷的平均高度的序号集合A； 设置周期性变化的最小像素距离D，确定横纵坐标的差分值的最小高度差大于D的局部峰值序号集合B； 在序号集合A中删除属于序号集合B的离散缺陷。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司，其通讯地址为：430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励