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龙图腾网获悉罗德施瓦兹两合股份有限公司申请的专利用于测量和可视化PCB的电磁参数的值的方法、系统和探针获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117269633B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310555869.1，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权用于测量和可视化PCB的电磁参数的值的方法、系统和探针是由G·布雷塞尔设计研发完成，并于2023-05-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于测量和可视化PCB的电磁参数的值的方法、系统和探针在说明书摘要公布了：本发明涉及用于测量和可视化PCB的电磁参数的值的方法、系统和探针，其中，探针的探针头非接触地测量所述PCB的至少两个不同位置处的至少一个电磁参数的值；相对于所述探针头固定在适当位置的相机针对所述不同位置中的每一个位置记录所述PCB在所述探针头周围的区域的图像；针对所述不同位置中的每一个位置，将所述电磁参数的测量值与所述PCB在所述探针头周围的区域的记录的图像相关联；确定所述区域的每个记录的图像在所述PCB的地图表示上的位置；将所述PCB的地图表示与所述电磁参数的测量值叠加，以及将所述PCB的地图表示与叠加的所述电磁参数的测量值一起可视化。

本发明授权用于测量和可视化PCB的电磁参数的值的方法、系统和探针在权利要求书中公布了：1.一种用于可视化印刷电路板PCB的电磁参数的测量值的方法，包括： ‑ 通过探针的探针头，非接触地测量S11所述PCB的至少两个不同位置处的至少一个电磁参数的值； ‑ 通过相对于所述探针头固定在适当位置的相机，针对所述不同位置中的每一个位置，记录S12所述PCB在所述探针头周围的区域的图像； ‑ 针对所述不同位置中的每一个位置，将所述电磁参数的测量值与所述PCB在所述探针头周围的区域的记录的图像相关联S13； ‑ 确定S14所述区域的每个记录的图像在所述PCB的地图表示上的位置； ‑ 将所述PCB的地图表示与所述电磁参数的测量值叠加S15； ‑ 将所述PCB的地图表示与叠加的所述电磁参数的测量值一起可视化S16，其中，所述PCB的地图表示在所述方法开始时是不可用的，并且在关联步骤S13之后和确定步骤S14之前，所述方法还包括： ‑ 通过使用所述区域的记录的图像来生成S17所述PCB的地图表示；以及其中，所述确定步骤S14还包括： ‑ 基于生成步骤确定S14c所述区域的每个记录的图像在所述PCB的地图表示上的位置。

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