西安电子科技大学许京伟获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117826109B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410021298.8，技术领域涉及：G01S7/41；该发明授权基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法是由许京伟;廖桂生;肖畅;李军;王伟伟;段崇棣设计研发完成，并于2024-01-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法，本发明在双基雷达空间中划分杂波单元；分别计算各个杂波单元相对于发射和接收平台的擦地角；利用双基等效单基原理计算等效擦地角；确认杂波参数，计算修正前的面内杂波散射系数；用计算各个杂波单元对应的外平面角，修正面内散射模型，得到修正后杂波散射系数；分别计算空时二维导向矢量和杂波单元回波幅度，将得到的所有回波幅度生成杂波回波谱。本发明用各个杂波单元对应的外平面角，修正面内散射模型，得到面外散射情况下的杂波散射系数，本发明不仅可用于多种杂波类型生成对应的杂波谱，同时减小工程实现过程中的散射系数误差。
本发明授权基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双基面内外散射系数的双基地雷达杂波谱生成方法，其特征在于，用计算所选杂波单元对应的外平面角，计算面外散射系数，修正面内散射模型，得到精确双基地雷达杂波谱；该生成方法具体步骤如下： 步骤1，在双基雷达空间中划分杂波单元； 步骤2，任意选取一个未选过的杂波单元，分别计算所选杂波单元相对于发射平台和接收平台的发射站擦地角和接收站擦地角； 步骤3，计算等效擦地角； 步骤4，计算修正前的面内杂波散射系数； 步骤5，用计算所选杂波单元对应的外平面角，修正面内散射模型，得到面外散射情况下的杂波散射系数； 步骤6，分别计算空时二维导向矢量和杂波单元回波幅度，将重复步骤2‑步骤5得到的所有回波幅度生成杂波回波谱。
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