买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种多层屏蔽体屏蔽效能的间接测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119395395B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411160073.7，技术领域涉及：G01R29/08；该发明授权一种多层屏蔽体屏蔽效能的间接测试方法是由田锦;高亚慧;王兆珂;冯胜利;覃宇建设计研发完成，并于2024-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多层屏蔽体屏蔽效能的间接测试方法在说明书摘要公布了：本申请属于电磁屏蔽技术领域。本申请提供一种多层屏蔽体屏蔽效能的间接测试方法。本公开实施例采用基于屏蔽体的磁并矢格林函数和Bethe小孔耦合理论的方法求解孔缝处短路场和孔缝泄露场，求解得到的叠加修正因子可以考虑腔体壁面对电磁波的反射作用，使得修正得到的多层屏蔽效能更接近真实值；同时叠加修正因子可以处理内外层孔缝任意相对位置时的情形，从而扩大该方案的适用范围。

本发明授权一种多层屏蔽体屏蔽效能的间接测试方法在权利要求书中公布了：1.一种多层屏蔽体屏蔽效能的间接测试方法，其特征在于，该方法包括： 获取双层屏蔽体的双层距离参数；其中，双层屏蔽体包括内层屏蔽体和外层屏蔽体； 基于测试标准，获取内层屏蔽体的内层距离参数和外层屏蔽体的外层距离参数； 根据内层屏蔽体的尺寸和外层屏蔽体的尺寸的比例，确定双层屏蔽体的磁并矢格林函数的获取方法，并根据获取方法得到磁并矢格林函数；具体包括：若内层屏蔽体的尺寸和外层屏蔽体的尺寸的比例小于预设的阈值，则根据双层距离参数计算外层屏蔽体的磁并矢格林函数，并将外层屏蔽体的磁并矢格林函数作为双层屏蔽体的磁并矢格林函数；若内层屏蔽体的尺寸和外层屏蔽体的尺寸的比例大于预设的阈值，利用数值仿真方法获取双层屏蔽体的磁并矢格林函数；其中，利用数值仿真方法获取双层屏蔽体的磁并矢格林函数的具体包括：确定测试天线的等效偶极子源的类型；测试天线的等效偶极子源的类型包括磁偶极子和电偶极子；根据双层距离参数及测试天线的等效偶极子源的类型，构建双层屏蔽体仿真模型； 若测试天线的等效偶极子源的类型为磁偶极子，则内层孔缝处放置切向磁偶极子；利用双层屏蔽体仿真模型得到仿真外层孔缝处的第一电场fe和第一磁场fn；基于外层屏蔽体的磁并矢格林函数，根据第一电场fe和第一磁场fn得到双层屏蔽体的第一磁并矢格林函数； 若测试天线的等效偶极子源的类型为电偶极子，内层孔缝处放置切向磁偶极子；利用双层屏蔽体仿真模型得到仿真外层孔缝处的第二电场ge和第二磁场gn；基于外层屏蔽体的磁并矢格林函数，根据第二电场ge和第二磁场gn得到双层屏蔽体的第二磁并矢格林函数； 根据双层距离参数、内层距离参数、外层距离参数和磁并矢格林函数得到双层屏蔽体的叠加修正因子；其中，叠加修正因子包括：磁场叠加修正因子和电场叠加修正因子； 磁场叠加修正因子的表达式为： 式中，为测试天线水平极化时的磁场叠加修正因子，为测试天线垂直极化时的磁场叠加修正因子，为外层屏蔽体的磁并矢格林函数的第一行第一列元素，为双层屏蔽体的第一磁并矢格林函数的第一行第一列元素，为内层屏蔽体中等效偶极子源的位置矢量，为内层屏蔽体孔缝的位置矢量，为对内层屏蔽体进行屏蔽效能测试时，发射天线的位置矢量，为外层屏蔽体的磁并矢格林函数的第三行第三列元素，为双层屏蔽体的第一磁并矢格林函数的第三行第三列元素； 电场叠加修正因子的表达式为： 为测试天线水平极化时的电场叠加修正因子，为测试天线垂直极化时的电场叠加修正因子，为波指数，为外层屏蔽体的磁并矢格林函数的第三行第一列元素，为外层屏蔽体的磁并矢格林函数的第一行第三列元素； 基于测试标准，分别对内层屏蔽体和外层屏蔽体进行屏蔽效能测试，以得到内层屏蔽体的内层屏蔽效能和外层屏蔽体的外层屏蔽效能； 根据内层屏蔽效能、外层屏蔽效能和叠加修正因子，得到双层屏蔽效能。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安电子科技大学，其通讯地址为：710071 陕西省西安市太白南路2号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。