武汉北极芯微电子有限公司谢文轩获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉北极芯微电子有限公司申请的专利一种降低成像装置功耗的方法和电路获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119743687B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411787238.3,技术领域涉及:H04N25/773;该发明授权一种降低成像装置功耗的方法和电路是由谢文轩;张玺;张睿;唐久设计研发完成,并于2024-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种降低成像装置功耗的方法和电路在说明书摘要公布了:本公开实施例提供了一种降低成像装置功耗的方法和电路,成像装置至少包括由多个SPAD像素组成的像素阵列;该方法包括:获取光强信息或和计数信息,光强信息包括光强参数或像素阵列中SPAD像素的第一类光子计数值,计数信息包括像素阵列中SPAD像素的第二类光子计数值;其中,第一类光子计数值与环境光强相关,第二类光子计数值与成像目标相关;根据光强信息或计数信息判断成像条件,并根据判断结果调整像素阵列中SPAD像素的光子计数率。
本发明授权一种降低成像装置功耗的方法和电路在权利要求书中公布了:1.一种降低成像装置功耗的方法,其特征在于,所述成像装置至少包括由多个SPAD像素组成的像素阵列;所述方法包括: 获取光强信息或和计数信息,所述光强信息包括光强参数或所述像素阵列中所述SPAD像素的第一类光子计数值,所述计数信息包括所述像素阵列中所述SPAD像素的第二类光子计数值;其中,所述第一类光子计数值与环境光强相关,所述第二类光子计数值与成像目标相关; 根据所述光强信息或所述计数信息判断成像条件,并根据判断结果调整所述像素阵列中所述SPAD像素的光子计数率; 根据所述光强信息判断所述成像条件,并根据判断结果调整所述像素阵列中所述SPAD像素的光子计数率,包括: 将所述光强参数与至少一个光强阈值进行比较,若所述光强参数大于或等于所述光强阈值,调低所述像素阵列中所述SPAD像素的光子计数率;若所述光强参数小于所述光强阈值,调高所述像素阵列中所述SPAD像素的光子计数率;或者,将所述第一类光子计数值与至少一个判断阈值进行比较,若所述第一类光子计数值大于或等于所述判断阈值,调低所述像素阵列中所述SPAD像素的光子计数率;若所述第一类光子计数值小于所述判断阈值,调高所述像素阵列中所述SPAD像素的光子计数率; 或者,根据所述计数信息判断所述成像条件,并根据判断结果调整所述像素阵列中所述SPAD像素的光子计数率,包括: 将所述第二类光子计数值与计数阈值进行比较,若所述第二类光子计数值等于所述计数阈值,调低所述像素阵列中所述SPAD像素的光子计数率至为0。
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