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龙图腾网获悉深圳市世宗自动化设备有限公司申请的专利工业关键点数据清洗与异常点剔除的方法及相关装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120804526B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511278806.1，技术领域涉及：G06F18/10；该发明授权工业关键点数据清洗与异常点剔除的方法及相关装置是由高书俊;徐子亮;朱昊宇设计研发完成，并于2025-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本工业关键点数据清洗与异常点剔除的方法及相关装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种工业关键点数据清洗与异常点剔除的方法及相关装置，其中，该方法包括：获取待处理的工业关键点坐标数据，并对坐标数据进行预处理；动态确定预处理后的坐标数据的最优聚类簇数；基于最优聚类簇数，采用第一聚类算法对坐标数据进行聚类，并根据各簇内的距离分布统计特性，识别出第一类异常点；对剔除第一类异常点后的数据，采用基于密度的第二聚类算法进行二次清洗，以识别出被判定为噪声点的第二类异常点；整合第一类异常点和第二类异常点，生成清洗后的数据集。本发明通过将动态聚类、基于簇内统计的异常检测以及密度二次清洗相结合，增强了数据清洗过程的自适应能力、准确性和鲁棒性，能够产出更为纯净、可靠的数据集。

本发明授权工业关键点数据清洗与异常点剔除的方法及相关装置在权利要求书中公布了：1.一种工业关键点数据清洗与异常点剔除的方法，其特征在于，包括： 获取待处理的工业关键点坐标数据，并对所述坐标数据进行预处理； 动态确定所述预处理后的坐标数据的最优聚类簇数； 基于所述最优聚类簇数，采用第一聚类算法对所述坐标数据进行聚类，并根据各簇内的距离分布统计特性，识别出与所属簇的簇质心距离超出第一动态阈值的第一类异常点； 对剔除所述第一类异常点后的数据，采用基于密度的第二聚类算法进行二次清洗，以识别出基于数据点局部密度被判定为噪声点的第二类异常点； 整合所述第一类异常点和第二类异常点，生成清洗后的数据集； 其中，所述动态确定所述预处理后的坐标数据的最优聚类簇数包括： 在预设的初始簇数区间内，针对每一个簇数值，计算其对应的簇内所有点到其对应簇中心的欧氏距离平方和； 基于所述簇内欧氏距离平方和的变化率，采用肘部法则确定一个肘部点，并以所述肘部点为中心确定一个候选簇数范围； 在所述候选簇数范围内，针对每一个簇数值，计算其对应的平均轮廓系数； 选择使所述平均轮廓系数最大的簇数值作为所述最优聚类簇数。

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