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龙图腾网获悉西安华瑞恒泰信息技术有限公司申请的专利基于图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121053131B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511590165.3，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法是由高新义;张丹;李增元;王文珍;谢嘉欣设计研发完成，并于2025-11-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法，涉及图像识别领域，该方法包括：采集天线阵列基板的图像，按照天线阵列划分标准，划分获得天线图像阵列；对多个天线图像进行特征识别，获得多个天线特征，与多个标准天线特征进行异常度分析，获得天线异常度阵列；根据天线异常度阵列，分别配置污染识别系数，进行污染识别；对天线异常度阵列和污染参数阵列进行移动窗口选取，并进行邻近天线变形验证和邻近天线污染验证，处理获得变形验证系数和污染验证系数，获得融合缺陷参数，作为缺陷检测结果。本发明通过图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法，解决缺陷检测误报率高，缺陷检测结果效率低、准确性不足的问题。

本发明授权基于图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.基于图像识别的天线阵列基板缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括： 按照预设图像采集标准，采集天线阵列基板的图像，按照天线阵列划分标准，划分获得天线图像阵列； 对天线图像阵列内的多个天线图像进行特征识别，获得多个天线特征，与多个标准天线特征进行异常度分析，获得天线异常度阵列； 根据所述天线异常度阵列，分别配置污染识别系数，进行污染识别，获得污染参数阵列； 对所述天线异常度阵列和污染参数阵列进行移动窗口选取，并对选取的移动窗口进行邻近天线变形验证和邻近天线污染验证，处理获得变形验证系数和污染验证系数，包括： 在所述天线异常度阵列内进行移动窗口选取，获得第一天线异常度窗口； 对所述第一天线异常度窗口内的若干个天线异常度进行邻近天线变形验证，获得第一窗口变形验证系数，其中，计算所述第一天线异常度窗口内的若干个天线异常度的相似度，作为第一窗口变形验证系数； 继续对天线异常度阵列和污染参数阵列进行移动窗口选取，并进行邻近天线变形验证和邻近天线污染验证，获得窗口变形验证系数集合和窗口污染验证系数集合，分别计算均值获得变形验证系数和污染验证系数； 结合所述天线异常度阵列和污染参数阵列，计算获得天线阵列基板的融合缺陷参数，作为缺陷检测结果。

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