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湘江实验室吴阳获国家专利权

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龙图腾网获悉湘江实验室申请的专利一种半自动大田场景下的表型数据测量方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121053548B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511593636.6,技术领域涉及:G06V20/10;该发明授权一种半自动大田场景下的表型数据测量方法及系统是由吴阳;龙晓波;李佳妮;高俊峰;莫哲;唐玉萍;叶永淼;朱皓;刘星宝设计研发完成,并于2025-11-03向国家知识产权局提交的专利申请。

一种半自动大田场景下的表型数据测量方法及系统在说明书摘要公布了:本发明提供一种半自动大田场景下的表型数据测量方法及系统,属于室外大田场景下的表型数据测量领域,所述方法包括:采集作物图像,并根据作物图像,获取用户指定的目标表型中心坐标点;将作物图像和用户指定的目标表型中心坐标点通过预训练的SAM模型进行分割,得到目标表型掩码图像;通过判断掩码图像的弯曲特征,以得到掩码图像的形态特征,其中,形态特征包括直立形态和弯曲形态。本发明通过一种无需数据收集、标定和模型训练,可以广泛应用于各种植物、场景下的植物表型数据计算方法,能规避数据标注、模型训练带来的大量成本。

本发明授权一种半自动大田场景下的表型数据测量方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种半自动大田场景下的表型数据测量方法,其特征在于,所述方法包括: 步骤1:采集作物图像,并根据作物图像,获取用户指定的目标表型中心坐标点; 步骤2:将作物图像和用户指定的目标表型中心坐标点通过预训练的SAM模型进行分割,得到目标表型掩码图像; 步骤3:通过判断掩码图像的弯曲特征,以得到掩码图像的形态特征,其中,形态特征包括直立形态和弯曲形态; 步骤4:通过对直立形态掩码图像提取最小外接矩形,以矩形长边作为目标表型长度,短边作为目标表型宽度,获取直立表型参数; 步骤5:通过对弯曲形态掩码图像依次执行二值化、形态学去噪和骨架化处理生成骨架图,并基于骨架图构建图结构并识别端点,以端点间最长路径作为目标表型弯曲长度,获取弯曲表型长度; 步骤6:通过步骤1和步骤2,获取各叶片独立掩码,对各叶片掩码依次进行二值化、去噪、骨架化、连通域标记及提取区域属性;并对提取的区域属性进行PCA降维获得叶片方向向量,根据两方向向量的反余弦值,计算叶片间夹角,获得叶片间夹角参数,包括:对第一目标叶片执行步骤1‑2,获取第一叶片掩码图像;对第二目标叶片执行步骤1‑2,获取第二叶片掩码图像;对第一叶片掩码图像和第二叶片掩码图像进行二值化处理,生成二值掩码;对各二值掩码依次执行膨胀和腐蚀操作,消除噪声并平滑边界,以得到去噪后的掩码;对去噪后的掩码进行细化处理,提取单像素宽度的叶片骨架,获取叶片骨架图像;对骨架图像进行连通区域标记,识别独立骨架区域,得到各连通区;通过提取各连通区域的几何属性,获取区域属性提取,区域属性包括像素坐标集和质心位置。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人湘江实验室,其通讯地址为:410200 湖南省长沙市高新区尖山路217号北斗产业园1栋;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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