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龙图腾网获悉长沙学院;长沙盈芯半导体科技有限公司申请的专利超高频RFID芯片的安全恢复方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121071948B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511623533.X，技术领域涉及：G06F21/77；该发明授权超高频RFID芯片的安全恢复方法、装置、设备及介质是由黄翼;唐锡云;刘驰;蔺代永;易标;刘展毓;周以纯;朱宗铭设计研发完成，并于2025-11-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本超高频RFID芯片的安全恢复方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本发明涉及射频信号安全技术领域，提供一种超高频RFID芯片的安全恢复方法、安全恢复装置、电子设备及介质。该方法包括建立RFID初始识别设备与硬件加密机有线通信连接；RFID初始识别设备不具有无线通信模块；进行第一安全认证，认证合格后，向RFID初始识别设备发送对应的TID码和芯片秘钥；RFID初始识别设备与RFID芯片物理触点接触建立通信连接，RFID初始识别设备离线设置；进行第二安全认证，向对应TID码的RFID芯片写入对应的芯片秘钥。基于此，通过硬件加密机授权下发密钥和物理触点写入的闭环，实现密钥的合法重置，节省更换成本，且防止写入过程中密钥被拦截或篡改，提高了重置密钥的安全性。

本发明授权超高频RFID芯片的安全恢复方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种超高频RFID芯片的安全恢复方法，其特征在于，包括以下步骤： S100：建立RFID初始识别设备与硬件加密机有线通信连接；其中，所述RFID初始识别设备不具有无线通信模块； S200：进行第一安全认证，并在认证合格后，所述硬件加密机向所述RFID初始识别设备发送对应的TID码和芯片秘钥；步骤S200包括以下步骤：S210：所述RFID初始识别设备向所述硬件加密机发起第一安全认证，所述第一安全认证包括验证初始设备标识；S220：所述硬件加密机验证所述第一安全认证是否合格，包括验证所述初始设备标识是否在合法设备列表中；S230：当所述第一安全认证合格时，所述硬件加密机向所述RFID初始识别设备返回TID码和芯片秘钥；S240：当所述第一安全认证不合格时，所述硬件加密机与所述RFID初始识别设备断开连接； S300：所述RFID初始识别设备与RFID芯片物理触点接触建立通信连接，所述RFID初始识别设备离线设置； S400：进行第二安全认证，并在认证合格后，所述RFID初始识别设备向对应所述TID码的所述RFID芯片写入对应的所述芯片秘钥；步骤S400包括以下步骤：S410：所述RFID初始识别设备与所述RFID芯片进行第二安全认证，所述第二安全认证包括验证TID码是否一致； S420：当所述第二安全认证合格时，所述RFID初始识别设备重置对应所述TID码的所述RFID芯片的芯片秘钥；S430：当所述第二安全认证不合格时，所述RFID初始识别设备与所述RFID芯片断开连接。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人长沙学院;长沙盈芯半导体科技有限公司，其通讯地址为：410000 湖南省长沙市开福区洪山路98号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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