成都工业学院田金沙获国家专利权
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龙图腾网获悉成都工业学院申请的专利自适应残差校正网络的单幅图像超分辨率处理方法和装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121073775B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511621188.6,技术领域涉及:G06T3/4053;该发明授权自适应残差校正网络的单幅图像超分辨率处理方法和装置是由田金沙;向芳悦;冯冰彬;李裕岚设计研发完成,并于2025-11-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本自适应残差校正网络的单幅图像超分辨率处理方法和装置在说明书摘要公布了:本发明涉及图像处理技术领域,公开了一种自适应残差校正网络的单幅图像超分辨率处理方法和装置,包括:对待处理图像进行特征提取,得到初始图像特征,待处理图像的分辨率为第一分辨率;对初始图像特征进行多层级自适应特征融合,得到多层级中间特征;在每个层级自适应特征融合中,对非线性推断生成的残差特征进行校正,残差特征包含因映射误差产生的异质特征,校正过程通过残差校正子模块将异质特征转化为同质特征,并基于同质特征消除残差特征的残差偏差;根据多层级中间特征进行图像恢复,得到目标图像,目标图像的分辨率为第二分辨率,第二分辨率大于第一分辨率。本发明实现兼顾高保真度与低计算成本的单幅图像超分辨率处理方法。
本发明授权自适应残差校正网络的单幅图像超分辨率处理方法和装置在权利要求书中公布了:1.一种自适应残差校正网络的单幅图像超分辨率处理方法,其特征在于,所述方法基于自适应残差校正网络实现,包括如下步骤: 对待处理图像进行特征提取,得到初始图像特征,所述待处理图像的分辨率为第一分辨率; 对所述初始图像特征进行多层级自适应特征融合,得到多层级中间特征;其中,在每个层级自适应特征融合中,通过残差校正模块对非线性推断生成的残差特征进行校正,所述残差特征包含因映射误差产生的异质特征,所述校正过程包括:通过残差校正子模块对所述残差特征进行处理,所述残差校正子模块包括依次连接的1×1第四卷积层、激活函数层和1×1第五卷积层,先通过所述第四卷积层对所述残差特征进行通道维度压缩,再通过所述激活函数层进行非线性激活,最后通过所述第五卷积层进行通道维度恢复,得到表征映射误差的同质特征,将所述残差特征与所述同质特征作差以消除所述残差特征的残差偏差; 根据所述多层级中间特征进行图像恢复,得到目标图像,所述目标图像的分辨率为第二分辨率,所述第二分辨率大于所述第一分辨率。
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