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龙图腾网获悉合肥巨阙电子有限公司申请的专利一种GaN半导体功率器件动态参数测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121186561B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511728752.4，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种GaN半导体功率器件动态参数测试方法及系统是由赵德喜;庄国强;万康;甘锦锐;昌杰;冯院明;王静爽设计研发完成，并于2025-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种GaN半导体功率器件动态参数测试方法及系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种GaN半导体功率器件动态参数测试方法及系统，涉及功率半导体器件测试技术领域，解决了现有技术现有的半导体功率器件测试方法中采用固定采样周期进行检测，导致半导体功率器件测试精度较低，无法准确对半导体功率器件进行测试的技术问题；获取测试参数，基于测试项目对待测器件进行测试；获取采样间隔，基于采样间隔采集检测参数，基于检测参数生成检测参数变化曲线；基于检测参数变化曲线对采样间隔进行更新；获取监测周期，基于监测周期采集监测参数，基于监测参数生成监测参数变化曲线；将各个检测项目对应的检测参数变化曲线和各个监测项目对应的监测参数变化曲线进行显示输出；保证了采样精度，进而提高测试精度。

本发明授权一种GaN半导体功率器件动态参数测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种GaN半导体功率器件动态参数测试方法，其特征在于，包括： 获取测试参数，基于测试项目对待测器件进行测试； 获取采样间隔，基于采样间隔采集检测参数，基于检测参数生成检测参数变化曲线；包括：提取检测参数中各个检测项目的检测数值和其对应的采集时刻；将同一检测项目的若干检测数值按照其对应的采集时刻进行拟合得到所述检测项目当前的阶段变化曲线；获取上一个采样间隔对应的检测参数变化曲线，基于检测参数变化曲线与阶段变化曲线生成当前采样间隔内所述检测项目对应的检测参数变化曲线；包括： 获取检测参数变化曲线和阶段变化曲线；获取检测参数变化曲线与阶段变化曲线时间轴重合的部分，并标记为修正曲线一；获取阶段变化曲线与检测参数变化曲线时间轴重合的部分，并标记为修正曲线二；将修正曲线一和修正曲线二代入设定的曲线修正函数中，得到修正曲线；所述曲线修正函数的一种表达形式为： ； 其中，为修正曲线；为修正曲线一；为修正曲线二；为修正曲线一的权重系数；为修正曲线二对应的权重系数；修正曲线二的权重系数基于修正曲线二对应的若干采样间隔设置，包括： ； ； 其中，为修正曲线二对应第i个采样间隔，为当前的采样间隔；i=1,2，…，I；I为修正曲线二中采样间隔的数量；为时间t对应采样间隔的编号； 获取检测变化曲线与阶段变化曲线时间轴不重合的部分曲线一，以及阶段变化曲线与检测参数变化曲线时间轴不重合的部分曲线二；将部分曲线一、修正曲线和部分曲线二按照时间先后顺序整合成当前采样间隔对应检测项目的检测参数变化曲线； 依次生成各个检测项目对应的检测参数变化曲线； 基于检测参数变化曲线对采样间隔进行更新； 获取监测周期，基于监测周期采集监测参数，基于监测参数生成监测参数变化曲线； 将各个检测项目对应的检测参数变化曲线和各个监测项目对应的监测参数变化曲线进行显示输出。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人合肥巨阙电子有限公司，其通讯地址为：230088 安徽省合肥市高新区师姑墩支路68号羲禾园区1号厂房1-6楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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