宁波晶创科技有限公司金凯获国家专利权
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龙图腾网获悉宁波晶创科技有限公司申请的专利一种晶振芯片测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121208602B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511746771.X，技术领域涉及：G01R31/3183；该发明授权一种晶振芯片测试方法是由金凯;吴中林;林立青;陈定夫设计研发完成，并于2025-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种晶振芯片测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种晶振芯片测试方法，包括以下步骤：构建晶振芯片的数字孪生模型，并在其中插入扫描链；将扫描链的扫描输出和晶振的电信号融合成为多维晶振特征；通过扫描链对所述数字孪生模型注入正常样本，获得无故障情况下的所述多维晶振特征作为训练数据，训练过完备字典；通过扫描链对所述数字孪生模型注入故障样本，获得不同故障类型下的所述多维晶振特征，进而利用过完备字典计算出每个故障类型对应的重构误差作为故障指纹；对所述晶振芯片进行扫描测试，根据测试得到的所述多维晶振特征利用过完备字典计算出重构误差，进而将实测的重构误差与所述故障指纹进行比对获得芯片测试结果。本发明能够提高晶振芯片的检测精度和准确度。
本发明授权一种晶振芯片测试方法在权利要求书中公布了：1.一种晶振芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 构建晶振芯片的数字孪生模型，并在其中插入扫描链； 将扫描链的扫描输出和晶振的电信号融合成为多维晶振特征； 通过扫描链对所述数字孪生模型注入正常样本，获得无故障情况下的所述多维晶振特征作为训练数据，训练过完备字典； 通过扫描链对所述数字孪生模型注入故障样本，获得不同故障类型下的所述多维晶振特征，进而利用过完备字典计算出每个故障类型对应的重构误差作为故障指纹； 对所述晶振芯片进行扫描测试，根据测试得到的所述多维晶振特征利用过完备字典计算出重构误差，进而将实测的重构误差与所述故障指纹进行比对获得芯片测试结果。
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