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龙图腾网获悉南京宏泰半导体科技股份有限公司;上海宏泰芯半导体科技有限公司申请的专利一种用于ATE异步并行测试的多控制站系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121231991B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511811485.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种用于ATE异步并行测试的多控制站系统是由何振宇;李全任设计研发完成，并于2025-12-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于ATE异步并行测试的多控制站系统在说明书摘要公布了：本申请涉及半导体自动化测试技术领域，公开了一种用于ATE异步并行测试的多控制站系统，该系统在测试主机的数据总线与测试槽位之间设置总线控制单元，主控制器通过配置指令驱动总线控制单元动作，将测试槽位物理映射至不同控制器，实现硬件资源的动态分配与物理隔离，各控制器独立与分选机交互执行异步测试，并根据接收到的上一工序测试结果自动跳过不良品测试，主控制器通过数据对齐模块，基于唯一标识码将离散的测试数据汇总为完整记录。本发明通过在数据总线与测试槽位之间设置总线控制单元，利用配置指令控制多路复用器的通断状态，以基于物理地址的硬件资源隔离与动态映射，消除了多控制器同时访问共享总线时的电平冲突风险。

本发明授权一种用于ATE异步并行测试的多控制站系统在权利要求书中公布了：1.一种用于ATE异步并行测试的多控制站系统，其特征在于，包括测试主机、多控制器组、分选机以及生产执行系统； 所述测试主机内部设置有数据总线以及多个用于安装测试仪表板卡的测试槽位； 所述数据总线与每一个所述测试槽位之间分别设置有总线控制单元, 所述总线控制单元用于根据控制指令导通或阻断所述数据总线与对应的测试槽位之间的数据传输路径； 所述多控制器组包括主控制器和多个从控制器, 所述主控制器与所述总线控制单元的控制端信号连接, 用于向所述数据总线发送配置指令, 驱动所述总线控制单元动作将不同的所述测试槽位物理映射至主控制器或不同的从控制器； 所述多控制器组中的每一台控制器均设有独立的通信接口, 分别与所述分选机连接, 用于传输开始测试信号、测试结束信号及分类数据； 生产执行系统与主控制器通信连接, 用于接收所述主控制器上传经过数据对齐与汇总的最终测试数据记录； 所述总线控制单元包括多路复用器及配置寄存器，具体用于： 所述配置寄存器具有唯一的硬件物理地址, 所述主控制器发送包含所述配置寄存器地址及控制字的配置指令, 以对所述配置寄存器的访问和写入； 当所述配置寄存器中的控制字被写入预设的数值时, 所述多路复用器建立控制器至相对应测试槽位的数据通路； 当所述主控制器将所述总线控制单元的归属权划定给对应控制器时，所述总线控制单元呈现高阻态或断路状态以屏蔽其余控制器针对控制器相对应测试槽位的数据操作信号； 所述主控制器内部运行有资源解析模块, 所述资源解析模块用于读取所述生产执行系统下发的生产工单, 提取各个测试工序对硬件资源的需求参数； 所述主控制器用于获取所述测试主机中各测试槽位的硬件配置状态,并将所述需求参数与所述硬件配置状态进行匹配计算,根据匹配计算的结果生成资源分配映射表,所述资源分配映射表记录了测试工序、负责测试的控制器 ID 以及控制器所占用的物理测试槽位编号之间的对应关系； 所述主控制器根据所述资源分配映射表向所述数据总线发送所述配置指令。

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