中国科学院合肥物质科学研究院付洪波获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利一种用于激光光谱中饱和谱线强度的修正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121347427B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511902839.9，技术领域涉及：G01N21/31；该发明授权一种用于激光光谱中饱和谱线强度的修正方法是由付洪波;张志荣;王华东;孙鹏帅;王前进设计研发完成，并于2025-12-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于激光光谱中饱和谱线强度的修正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于激光光谱中饱和谱线强度的修正方法，涉及光谱数据分析技术领域，识别光谱中的饱和特征并基于强度阈值确定饱和点，记录饱和点的原始强度；确定包含饱和点的目标谱峰波长范围；从目标谱峰波长范围内剔除饱和点，保留未饱和点；通过非线性函数对未饱和点进行拟合，得到拟合的最大强度；若拟合的最大强度低于原始强度，则以未饱和点为基准采用线性延伸方式进行强度修正，反之则直接基于拟合模型进行强度修正；输出修正后的光谱强度数据，并计算谱峰最大强度与谱峰积分面积。本发明提高了饱和判定的准确性和修正结果的可靠性，为定量分析提供直接的强度数据基础和核心衍生参数。
本发明授权一种用于激光光谱中饱和谱线强度的修正方法在权利要求书中公布了：1.一种用于激光光谱中饱和谱线强度的修正方法，其特征在于，包括以下步骤： S1，识别光谱中的饱和特征并基于强度阈值确定饱和点，记录饱和点的原始强度I原始； S2，确定包含所述饱和点的目标谱峰波长范围； S3，从所述目标谱峰波长范围内剔除饱和点，保留未饱和点； S4，通过非线性函数对所述未饱和点进行拟合，得到拟合的目标谱峰的最大强度I拟合、中心波长λ0及半峰宽γ； S5，强度修正： 若I拟合≥I原始，则基于非线性函数，计算饱和点的推算强度； 若I拟合＜I原始，则选取靠近饱和区的N个未饱和点建立波长与强度的线性方程，将饱和点波长代入所述线性方程，计算饱和点的推算强度； S6，基于推算结果形成修正后的光谱强度数据，修正后的光谱强度数据包含目标谱峰波长范围内未饱和点的原始强度与饱和点的推算强度。
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