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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利元件性能测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121008154B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511543627.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权元件性能测试方法及系统是由施秋云设计研发完成，并于2025-10-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本元件性能测试方法及系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种元件性能测试方法及系统，涉及自动化测试技术领域，通过先根据目标输出电压区间以及其他相关参数预测目标测试元件的理论参数区间，在测试过程中若目标测试元件的实际参数超出理论参数区间，则判定目标测试元件的性能差，从而可以快速确定导致测试数据不达标的原因，节省反复调整参数重新测试所浪费的时间，提高了测试效率。

本发明授权元件性能测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种元件性能测试方法，其特征在于，所述方法包括： 基于被测主板的目标输出电压区间以及所述被测主板上电压调整器的属性数据，计算所述电压调整器中目标测试元件的理论参数区间，所述目标测试元件包括电感、电容中的至少一种； 基于至少一个测试用例对所述被测主板进行测试，得到测试过程中所述目标测试元件的实际参数； 若所述实际参数超出所述理论参数区间，则确定所述目标测试元件的性能异常； 若所述实际参数未超出所述理论参数区间，则初步确定所述目标测试元件的性能正常，并调整所述电压调整器的属性数据后对所述被测主板进行再次测试； 其中，所述若所述实际参数未超出所述理论参数区间，则初步确定所述目标测试元件的性能正常之后，还包括：根据所述测试过程中所述被测主板的输入电压与所述实际参数的对应关系构建响应方程，所述响应方程用于表示所述实际参数随所述输入电压变化的变化关系；将所述理论参数区间映射至所述响应方程所在的坐标系中，得到理论参数区域；基于所述响应方程在所述理论参数区域中的位置，确定所述目标测试元件的性能评估值； 其中，所述理论参数区间包括理论最大值、理论最小值，基于所述响应方程在所述理论参数区域中的位置，确定所述目标测试元件的性能评估值，包括：计算所述响应方程对应的曲线与所述理论最大值对应的所述理论参数区域的边界所构成的第一区域的面积；计算所述响应方程对应的曲线与所述理论最小值对应的所述理论参数区域的边界所构成的第二区域的面积；根据所述第一区域的面积与所述第二区域的面积之间的面积差值，确定所述目标测试元件的性能评估值，所述性能评估值与所述面积差值负相关。

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