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芯联动力科技(绍兴)有限公司李翔获国家专利权

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龙图腾网获悉芯联动力科技(绍兴)有限公司申请的专利外延结构及制备方法、HEMT器件及制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121087618B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511613921.X,技术领域涉及:C30B29/38;该发明授权外延结构及制备方法、HEMT器件及制备方法是由李翔设计研发完成,并于2025-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。

外延结构及制备方法、HEMT器件及制备方法在说明书摘要公布了:本申请实施例涉及一种外延结构的制备方法、外延结构、HEMT器件的制备方法以及HEMT器件,其中方法包括:提供衬底;在衬底上外延生长BxxAl1‑x1‑xN成核层,其中,0<x≤1;在BxxAl1‑x1‑xN成核层上外延生长ByyAl1‑y1‑yN渐变缓冲层,其中,0≤y≤1,沿远离衬底的方向,y从y0先减小至y2再增大至y1或先增大至y3再减小至y1;在ByyAl1‑y1‑yN渐变缓冲层上外延生长MzzGa1‑z1‑zN外延层,其中,0≤z<1,M包括B、Al、In、Ti中的至少一种,By1y1Al1‑y11‑y1N与MzzGa1‑z1‑zN的晶格常数的差异小于By2y2Al1‑y21‑y2N或By3y3Al1‑y31‑y3N与MzzGa1‑z1‑zN的晶格常数的差异。如此,有利于形成高质量的MzzGa1‑z1‑zN外延层,进而有效保障GaN器件的质量。

本发明授权外延结构及制备方法、HEMT器件及制备方法在权利要求书中公布了:1.一种外延结构的制备方法,其特征在于,所述方法包括: 提供衬底; 在所述衬底上外延生长BxAl1‑xN成核层,其中,0<x≤1; 在所述BxAl1‑xN成核层上外延生长ByAl1‑yN渐变缓冲层,其中,0≤y≤1,沿远离所述衬底的方向,y从y0先减小至y2再增大至y1或先增大至y3再减小至y1; 在所述ByAl1‑yN渐变缓冲层上外延生长MzGa1‑zN外延层,其中,0≤z<1,M包括B、Al、In、Ti中的至少一种,By1Al1‑y1N与MzGa1‑zN的晶格常数的差异小于By2Al1‑y2N或By3Al1‑y3N与MzGa1‑zN的晶格常数的差异。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人芯联动力科技(绍兴)有限公司,其通讯地址为:312000 浙江省绍兴市越城区皋埠街道人民东路1433号1号楼203-18;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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