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龙图腾网获悉深圳飞骧科技股份有限公司申请的专利耦合器方向性的检测系统、方法及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121125900B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511642933.5，技术领域涉及：H04M1/24；该发明授权耦合器方向性的检测系统、方法及存储介质是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2025-11-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本耦合器方向性的检测系统、方法及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种耦合器方向性的检测系统、方法及存储介质，旨在通过外部电路对功放芯片特定的输出端口的功率进行检测，并通过调整射频信号的输入方向来实现控制，能够快速获取耦合器方向性相关的必要参数，从而利于判断耦合器的方向性性能，为集成式功放耦合器的性能测试提供了一种快捷可行的方案。

本发明授权耦合器方向性的检测系统、方法及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种耦合器方向性的检测方法，其特征在于，所述耦合器方向性的检测方法通过用于获取待测试耦合器的方向性参数的检测系统实现，所述检测系统包括： 第一检测单元，与所述待测试耦合器的射频输入端口连接，所述第一检测单元用于为所述待测试耦合器提供射频输入信号，或提供接地的阻抗匹配； 第二检测单元，与所述待测试耦合器的耦合输出端口连接，所述第二检测单元用于检测所述待测试耦合器的耦合输出端口的输出功率，或提供接地的阻抗匹配； 第三检测单元，与所述待测试耦合器的天线输出端口连接，所述第三检测单元用于检测所述待测试耦合器的天线输出端口的输出功率或回波损耗，或为所述待测试耦合器提供射频输入信号； 所述耦合器方向性的检测方法包括以下步骤： S101、通过第一检测单元向功率放大器芯片的射频输入端口输入第一射频输入信号，并根据第二检测单元和第三检测单元各自检测到的功率值获取待测试耦合器的耦合系数C； S102、调整所述第一检测单元和所述第二检测单元为接地的阻抗匹配模式，获通过所述第三检测单元获取其检测到的回波损耗值S； S103、调整所述第二检测单元为检测待测试耦合器的耦合输出端口的输出功率模式，调整所述第三检测单元为提供射频输入信号模式； S104、通过所述第三检测单元向所述待测试耦合器的天线输出端口输入功率为P1的第二射频输入信号，并获取所述第二检测单元检测到的功率值P2； S105、根据耦合系数C、回波损耗值S、第二射频输入信号P1以及功率值P2获取所述待测试耦合器的隔离度ISO，将隔离度ISO和耦合系数C做差的值D作为所述待测试耦合器的方向性测试结果并输出。

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