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龙图腾网获悉浙江广芯微电子有限公司申请的专利用于超级结MOS器件的老化性能评估方法及平台获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121142265B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511668467.8，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权用于超级结MOS器件的老化性能评估方法及平台是由谢刚;湛亚鑫设计研发完成，并于2025-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于超级结MOS器件的老化性能评估方法及平台在说明书摘要公布了：本发明公开了用于超级结MOS器件的老化性能评估方法及平台，涉及性能评估技术领域，包括：进行测试场景匹配，得到目标加速测试场景组；依据目标加速测试场景组调取多个老化趋势曲线；本地调用待测试超级结MOS器件的历史运行数据集；对历史运行数据集进行退化特征提取，得到多组历史运行时序片段；进行多组历史运行时序片段的退化增量关联预测，输出器件老化时序趋势曲线；基于预设失效阈值比对器件老化时序趋势曲线，输出器件剩余使用寿命；交互获得目标电力电子系统的设备寿命设计指标，结合器件剩余使用寿命量化输出老化性能评估结果。本发明解决现有技术中老化性能评估准确性不足的技术问题，达到提高老化性能评估精度的技术效果。

本发明授权用于超级结MOS器件的老化性能评估方法及平台在权利要求书中公布了：1.用于超级结MOS器件的老化性能评估方法，其特征在于，所述方法包括： 根据待测试超级结MOS器件所处目标应用场景的电热应力特征参数进行测试场景匹配，得到目标加速测试场景组； 依据所述目标加速测试场景组在多场景加速测试数据库调取多个老化趋势曲线，其中，所述多个老化趋势曲线关联多个标定运行工况参数组合； 本地调用所述待测试超级结MOS器件的历史运行数据集； 依据所述多个标定运行工况参数组合对所述历史运行数据集进行退化特征提取，得到多组历史运行时序片段； 依据所述多个老化趋势曲线进行所述多组历史运行时序片段的退化增量关联预测，输出器件老化时序趋势曲线； 基于预设失效阈值比对所述器件老化时序趋势曲线，输出器件剩余使用寿命； 交互获得目标电力电子系统的设备寿命设计指标，其中，所述待测试超级结MOS器件集成于所述目标电力电子系统； 根据所述器件剩余使用寿命和设备寿命设计指标量化输出老化性能评估结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人浙江广芯微电子有限公司，其通讯地址为：323000 浙江省丽水市莲都区南明山街道七百秧街122号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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