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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利光计算设备的测试方法和电子设备、存储介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121210278B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511780331.6，技术领域涉及：G06F11/34；该发明授权光计算设备的测试方法和电子设备、存储介质及程序产品是由李辰;张新;姜金哲;于云龙;刘海玲;赵雅倩设计研发完成，并于2025-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本光计算设备的测试方法和电子设备、存储介质及程序产品在说明书摘要公布了：本申请公开了一种光计算设备的测试方法和电子设备、存储介质及程序产品，涉及计算机领域，包括：接收测试请求，其中，测试请求用于请求通过对光计算设备执行光计算任务进行仿真以测试光计算设备的运行性能；响应测试请求，对光计算设备进行仿真，得到光计算设备的设备模型；在设备模型执行光计算任务的过程中，根据光计算任务的任务执行时间和噪声映射参数为设备模型中对应的光学元件模拟噪声，并获取光计算任务的任务执行结果；根据任务执行结果检测光计算设备的运行性能，解决了光计算设备的运行性能测试准确度较低，达到了提高光计算设备的运行性能测试准确度的技术效果。

本发明授权光计算设备的测试方法和电子设备、存储介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种光计算设备的测试方法，其特征在于，包括： 接收测试请求，其中，所述测试请求用于请求通过对光计算设备执行光计算任务进行仿真以测试所述光计算设备的运行性能； 响应所述测试请求，对所述光计算设备进行仿真，得到所述光计算设备的设备模型，其中，所述设备模型为待通过执行光计算任务测试运行性能的光计算设备的仿真模型； 在所述设备模型执行所述光计算任务的过程中，根据所述光计算任务的任务执行时间和噪声映射参数为所述设备模型中对应的光学元件模拟噪声，并获取所述光计算任务的任务执行结果，其中，所述噪声映射参数包括具有映射关系的元件使用时间与噪声量，所述元件使用时间为在所述光计算任务的过程中对应的所述光学元件的使用时间； 根据所述任务执行结果检测所述光计算设备的运行性能； 其中，所述根据所述光计算任务的任务执行时间和噪声映射参数为所述设备模型中对应的光学元件模拟噪声，并获取所述光计算任务的任务执行结果，包括：获取所述光学元件的元件属性；根据所述元件属性检测所述光学元件对应的待模拟噪声的目标噪声类型；根据所述光计算任务的任务执行时间和所述目标噪声类型对应的所述噪声映射参数模拟属于所述目标噪声类型的噪声，并获取所述光计算任务的任务执行结果； 其中，所述根据所述光计算任务的任务执行时间和所述目标噪声类型对应的所述噪声映射参数模拟属于所述目标噪声类型的噪声，包括：在所述光学元件的元件类型为光源元件且所述目标噪声类型为光源噪声的情况下，获取动态变化参数，第一散粒噪声参数和噪声修正参数，其中，所述动态变化参数用于按照预设时间步长和预设概率，对所述光源元件所产生的光源信号的光源光强的平均值进行随机调整，以模拟所述光源光强的平均值随所述元件使用时间的变化，所述第一散粒噪声参数用于根据所述光源光强的平均值确定用于表征光子量子涨落的泊松分布模型的期望值，所述泊松分布模型用于从所述光源光强的平均值生成包含第一散粒噪声的瞬时采样光强，所述噪声修正参数用于将所述瞬时采样光强转换为所述光源元件输出的目标光源光强，所述光源噪声包括所述第一散粒噪声，所述光源噪声对应的所述噪声映射参数为光源噪声映射参数，所述光源噪声映射参数包括所述动态变化参数，所述第一散粒噪声参数和所述噪声修正参数；根据所述任务执行时间，所述动态变化参数，所述第一散粒噪声参数和所述噪声修正参数为所述光源元件模拟所述光源噪声。

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