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龙图腾网获悉南京泊纳莱电子科技有限公司申请的专利一种电子器件检测方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114414973B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111580658.0，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种电子器件检测方法、装置及电子设备是由黄韬;蔡友良设计研发完成，并于2021-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子器件检测方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种电子器件检测方法、装置及电子设备，其中的方法包括如下步骤：获取待检测器件的基准测试数据；控制检测治具移动至待检测器件上；控制检测治具连接至第二待测点以及每个第一待测点组中的第一部分的待测点，并获取第一检测数据；第一部分的待测点中包括与第二待测点直接连接的待测点；从基准测试数据中提取与第一检测数据对应的第一基准数据，并判断第一检测数据和第一基准数据之间的差值是否超出预设误差范围；当第一检测数据和第一基准数据之间的差值超出预设误差范围时，输出待检测器件不合格的检测结果。本发明中的方法，实现了对待检测器件上第一待测点的有效分批检测，实现了对高密度、高点数的电子器件的电性能的有效检测。

本发明授权一种电子器件检测方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种电子器件检测方法，其特征在于，包括如下步骤： 获取待检测器件的基准测试数据；所述待检测器件上包括若干第一待测点组和若干第二待测点，一个所述第一待测点组中的各个待测点依次串联连接至对应的一个所述第二待测点； 控制检测治具移动至所述待检测器件上； 控制所述检测治具连接至所述第二待测点以及每个所述第一待测点组中的第一部分的待测点，并获取第一检测数据；所述第一部分的待测点为依次串联的若干待测点，所述第一部分的待测点中包括与对应的所述第二待测点直接连接的待测点； 从所述基准测试数据中提取与所述第一检测数据对应的第一基准数据，并判断所述第一检测数据和所述第一基准数据之间的差值是否超出预设误差范围； 当所述第一检测数据和所述第一基准数据之间的差值超出所述预设误差范围时，输出所述待检测器件不合格的检测结果； 当所述第一检测数据和所述第一基准数据之间的差值未超出述预设误差范围，则控制所述检测治具移动连接至每个所述第一待测点组中的第二部分的待测点，并获取第二检测数据；所述第二部分的待测点为依次串联的若干待测点，所述第二部分的待测点和所述第一部分的待测点之间存在相同的待测点； 从所述基准测试数据中提取与所述第二检测数据对应的第二基准数据，并判断所述第二检测数据和所述第二基准数据之间的差值是否超出预设误差范围； 重复上述步骤，直至完成第一待测点组中所有待测点的检测；且当所述第一待测点组中的所有待测点的检测数据与对应的基准数据之间的差值均未超出预设误差范围时，输出所述待检测器件合格的检测结果。

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