通富微电子股份有限公司彭春豪获国家专利权
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龙图腾网获悉通富微电子股份有限公司申请的专利半导体器件测试方法及装置、电子设备、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114755552B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210509851.3，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权半导体器件测试方法及装置、电子设备、存储介质是由彭春豪设计研发完成，并于2022-05-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体器件测试方法及装置、电子设备、存储介质在说明书摘要公布了：本公开涉及半导体测试技术领域，提供一种半导体器件测试方法及装置、电子设备、存储介质，方法包括：确定动态零件平均测试的判据限值，包括：基于预设的采样方法，获得半导体器件样本；对所述半导体器件样本进行持续可靠性测试；基于未通过所述持续可靠性测试的半导体器件样本，得到所述动态零件平均测试的所述判据限值；基于所述判据限值，对半导体器件进行持续可靠性测试和动态零件平均测试，得到测试结果。本公开不仅实现了在不破坏逻辑的前提下，通过一道测试工序即可同时完成半导体器件的持续可靠性测试和动态零件平均测试，优化了测试流程，提高了测试效率，还使得测试条件更加严格，使最终筛选出的半导体器件品质更高、可靠性更强。
本发明授权半导体器件测试方法及装置、电子设备、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件测试方法，其特征在于，所述测试方法包括： 确定动态零件平均测试的判据限值，包括：基于预设的采样方法，获得半导体器件样本；对所述半导体器件样本进行持续可靠性测试；基于未通过所述持续可靠性测试的半导体器件样本，得到所述动态零件平均测试的所述判据限值； 基于所述判据限值，对半导体器件进行持续可靠性测试和动态零件平均测试，得到测试结果； 所述基于所述判据限值，对半导体器件进行持续可靠性测试和动态零件平均测试，包括： 对所述半导体器件进行持续可靠性测试； 基于所述判据限值，对未通过所述持续可靠性测试的半导体器件进行动态零件平均测试。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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