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龙图腾网获悉无锡中微腾芯电子有限公司申请的专利集成电路多工位测试校准方法、装置、测试机及测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114779145B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210315911.8，技术领域涉及：G01R35/00；该发明授权集成电路多工位测试校准方法、装置、测试机及测试系统是由张春辉;孙恺凡;唐彩彬;马锡春;张凯虹;陆坚;奚留华设计研发完成，并于2022-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路多工位测试校准方法、装置、测试机及测试系统在说明书摘要公布了：本发明涉及集成电路测试技术领域，具体公开了一种集成电路多工位测试校准方法，其中，包括：当根据校准球确定第一工位为可信工位时，根据待测集成电路在所述第一工位上的测试结果确定第一工位的可信测试值，其中校准球为待测集成电路所对应的成品电路，第一工位为N个工位中的任意一个，N为大于1的自然数；获取待测集成电路在除去第一工位后的N‑1个工位上进行相同测试项测试后的测试数据；将待测集成电路在N‑1个工位中每个工位上的测试数据均与可信测试值进行比较，得到每个工位所对应的补偿值。本发明还公开了一种集成电路多工位测试校准装置、测试机及集成电路测试系统。本发明提供的集成电路多工位测试校准方法有效提升了校准效率。

本发明授权集成电路多工位测试校准方法、装置、测试机及测试系统在权利要求书中公布了：1.一种集成电路多工位测试校准方法，其特征在于，包括： 当根据校准球确定第一工位为可信工位时，根据待测集成电路在所述第一工位上的测试结果确定第一工位的可信测试值，其中所述校准球为待测集成电路所对应的成品电路，所述第一工位为N个工位中的任意一个，N为大于1的自然数； 获取所述待测集成电路在除去第一工位后的N-1个工位上进行相同测试项测试后的测试数据； 将所述待测集成电路在N-1个工位中每个工位上的测试数据均与所述可信测试值进行比较，得到每个工位所对应的补偿值，其中每个工位所对应的补偿值用于补偿该工位上待测集成电路的测试数据； 其中，包括： 根据校准球在第一工位上的测试结果判断第一工位是否为可信工位； 其中，根据校准球在第一工位上的测试结果判断第一工位是否为可信工位，包括： 获取校准球在第一工位上的测试结果； 当所述校准球在第一工位上的测试结果满足预设要求时，则确定所述第一工位为可信工位； 其中，根据校准球在第一工位上的测试结果判断第一工位是否为可信工位，还包括： 将所述校准球在第一工位上的测试结果与校准球标准数据进行比较； 若所述校准球在第一工位上的测试结果与校准球标准数据的差值在误差允许范围内，则确定所述校准球在第一工位上的测试结果满足预设要求； 其中，若所述校准球在第一工位上的测试结果与校准球标准数据的差值不在误差允许范围内，则发出警告提示。

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