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龙图腾网获悉珠海昇生微电子有限责任公司申请的专利一种自动检测IC夹测稳定性的测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115184769B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210748464.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种自动检测IC夹测稳定性的测试方法是由付硕业设计研发完成，并于2022-06-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种自动检测IC夹测稳定性的测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种自动检测IC夹测稳定性的测试方法，该方法包括待测试芯片与第一触点引脚相连接并提供用于产生测量电压的基准电压，待测试芯片与第二触点引脚相连接并提供用于产生测量电压的charge电压；在待测试芯片测试修调基准时，分别测量待测试芯片的基准电压和charge电压，测试系统与待测试芯片接触时产生一接触电阻，根据基准电压和charge电压计算得出接触电阻的阻值，根据接触电阻的阻值确定待测试芯片和测试系统的接触情况以及金手指表面氧化程度，并基于目标基准电压对待测试芯片内部基准电压进行校准。应用本发明可以解决低成本MCU类芯片的自动化测试问题，能够快速测量出接触电阻，从而确定接触状况。

本发明授权一种自动检测IC夹测稳定性的测试方法在权利要求书中公布了：1.一种自动检测IC夹测稳定性的测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 待测试芯片与第一触点引脚相连接并提供用于产生测量电压的基准电压，待测试芯片与第二触点引脚相连接并提供用于产生测量电压的charge电压； 在待测试芯片测试修调基准时，分别测量待测试芯片的基准电压和charge电压，测试系统与待测试芯片接触时产生一接触电阻，根据基准电压和charge电压计算得出接触电阻的阻值，表示为公式1： R0＝V2-K*V1I*K-11 其中，V1为基准电压值，V2为charge电压值，K为基准电压和charge电压的比例关系； 根据接触电阻的阻值确定待测试芯片和测试系统的接触情况以及金手指表面氧化程度，并基于目标基准电压对待测试芯片内部基准电压进行校准； 当确定接触电阻超过预设值后，重新放置或者舍弃待测试芯片；当确定接触电阻不超过预设值时，则进行校准； 测试系统通过增设一AD转换通道以测量接触电阻两端的电压差值，并通过消除所述接触电阻两端的电压差值以实现对所述待测试芯片内部基准电压值的校准； 测试系统具有第一AD转换通道和第二AD转换通道，测试系统分别通过第一AD转换通道和第二AD转换通道测量待测试芯片的基准电压值和接触电阻两端的电压差值，且测试系统根据通过待测试芯片的基准电压值与接触电阻两端的电压差值之间的相减处理所得到的校准电压值实现对待测试芯片内部基准电压值的校准。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人珠海昇生微电子有限责任公司，其通讯地址为：519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇金唐路1号港湾1号科创园24栋B区3层302室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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