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龙图腾网获悉珠海信易为科技有限公司申请的专利硒鼓缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115294024B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210790461.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权硒鼓缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质是由苏策敏;郭永建;封家海设计研发完成，并于2022-07-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本硒鼓缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种硒鼓缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该硒鼓缺陷检测方法包括：采集硒鼓的第一图像，第一图像为打印纸张图片；将第一图像通过硒鼓缺陷检测模型执行检测，得到硒鼓缺陷分类结果；硒鼓缺陷检测模型的训练包括：获取多张第二图像，第二图像用于表征包括有缺陷的硒鼓图像；对第二图像进行缺陷标注，并采用目标检测模型进行训练，得到推算结果；对推算结果通过视觉检测执行后处理，得到硒鼓缺陷检测模型。本发明的有益效果为：计算速度快，且避免了使用GPU而导致的消费大的问题。此外，还通过深度学习算法还对复杂图像进行了有效检测，避免了传统算法是复杂图像繁琐的计算量。提高了硒鼓检测的速度和效率，降低了检测成本。

本发明授权硒鼓缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种硒鼓缺陷检测方法，其特征在于，包括： 响应于缺陷检测请求，采集硒鼓的第一图像，所述第一图像用于表征打印纸张的拍摄图片； 将所述第一图像通过硒鼓缺陷检测模型执行检测，得到硒鼓缺陷分类结果； 所述硒鼓缺陷检测模型的训练包括： 获取多张第二图像，所述第二图像用于表征包括有缺陷的硒鼓图像； 对所述第二图像进行缺陷标注，并采用目标检测模型进行训练，得到推算结果； 对所述推算结果通过视觉检测执行后处理，得到所述硒鼓缺陷检测模型； 其中，所述对所述推算结果通过视觉检测执行后处理，包括： 对所述推算结果的图像执行平场矫正，包括在稳定光源下拍摄标准图像，计算所述标准图像的灰度均值，确定标准图像减去灰度均值的差值图，对每次所述推算结果的图像减去所述差值图得出平场矫正图； 通过目标检测的缺陷检测框，对所述平场矫正图进行裁切，得到裁剪图； 对所述裁剪图进行中值滤波，得到滤波图； 对所述滤波图按照宽和高进行压缩，得出压缩图； 对所述压缩图进行求导得出极值信息图，然后通过对极值直接的高度距离或宽度距离判断硒鼓缺陷的类别，类别包括缺陷面积、缺陷分数及缺陷数量中的至少一种。

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