湖南进芯电子科技有限公司张锋获国家专利权
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龙图腾网获悉湖南进芯电子科技有限公司申请的专利一种芯片的初始化方法、系统、芯片及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115408066B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211038999.X，技术领域涉及：G06F9/4401；该发明授权一种芯片的初始化方法、系统、芯片及可读存储介质是由张锋;刘杨;吴修英设计研发完成，并于2022-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片的初始化方法、系统、芯片及可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片的初始化方法、系统、芯片及可读存储介质，初始化方法包括：获取模式选择信号；根据模式选择信号执行芯片初始化策略；测试初始化策略包括：依次将多个预设的测试修调数据由外部写入修调寄存模块中；根据每个测试修调数据对待修调模块进行修调，一一对应得到多个修调结果；根据多个修调结果从多个测试修调数据中选取目标修调数据；通过处理单元将目标修调数据写入存储单元中；非测试初始化策略包括：通过数据加载电路将目标修调数据从存储单元读取到修调寄存模块中；根据目标修调数据对待修调模块进行修调。本发明实施例的初始化方法能够提高系统的稳定性，减轻CPU的运行负荷。
本发明授权一种芯片的初始化方法、系统、芯片及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片的初始化方法，其特征在于，所述芯片包括待修调模块、修调寄存模块、存储单元、处理单元和数据加载电路；所述初始化方法包括以下步骤： 获取模式选择信号； 根据所述模式选择信号执行芯片初始化策略，所述芯片初始化策略包括测试初始化策略和非测试初始化策略； 其中，所述测试初始化策略包括以下步骤：依次将多个预设的测试修调数据由外部写入所述修调寄存模块中；根据每个所述测试修调数据对所述待修调模块进行修调，一一对应得到多个修调结果；根据多个所述修调结果从多个所述测试修调数据中选取目标修调数据；通过所述处理单元将所述目标修调数据写入所述存储单元中； 所述非测试初始化策略包括以下步骤：通过所述数据加载电路将所述目标修调数据从所述存储单元读取到所述修调寄存模块中；根据所述目标修调数据对所述待修调模块进行修调。
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