松山湖材料实验室张赫获国家专利权
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龙图腾网获悉松山湖材料实验室申请的专利提高粉末状闪烁体对高能射线探测性能的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115639587B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110814065.X，技术领域涉及：G01T1/202；该发明授权提高粉末状闪烁体对高能射线探测性能的方法是由张赫;王采林;李丽;赵金奎设计研发完成，并于2021-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本提高粉末状闪烁体对高能射线探测性能的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种提高粉末状闪烁体对高能射线探测性能的方法，其包括以下步骤：对闪烁体材料进行粉碎研磨获得闪烁体颗粒，在所述闪烁体颗粒的表面完全或部分包覆具有表面等离子体效应的金属层，然后与有机高分子材料混合制成闪烁体片子。本发明合理在闪烁体颗粒表面完全包覆或者部分覆盖有金属材料，基于金属材料的等离子体效应，能有效提高闪烁体的光产额并降低闪烁体的衰减寿命，进而达到提升闪烁体对高能射线探测性能的目的；而且整个操作流程简单、方便，易于实现，可以适用于各种粉末形状的闪烁体材料，具有广泛的应用场景，如应用到核医学成像、安全检查、工业探测、高能物理等领域。
本发明授权提高粉末状闪烁体对高能射线探测性能的方法在权利要求书中公布了：1.一种提高粉末状闪烁体对高能射线探测性能的方法，其特征在于：其包括以下步骤： 1预备闪烁体材料，对闪烁体材料进行粉碎研磨获得粒径为1-10μm的闪烁体颗粒； 2在所述闪烁体颗粒的表面包覆具有表面等离子体效应的金属层，获得包覆颗粒； 3将所述包覆颗粒与有机高分子材料混合制成闪烁体片子； 4应用所述闪烁体片子对高能射线进行探测； 所述金属层的厚度为0.01-50nm。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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