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龙图腾网获悉江西兆驰半导体有限公司申请的专利LED芯片的分选方法、系统及计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116013816B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310064381.9，技术领域涉及：H10P72/00；该发明授权LED芯片的分选方法、系统及计算机设备是由李宗魁;赵晓明;董国庆;文国昇;金从龙设计研发完成，并于2023-01-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本LED芯片的分选方法、系统及计算机设备在说明书摘要公布了：本发明提供了一种LED芯片的分选方法、系统及计算机设备，所述LED芯片的分选方法包括：获取晶圆的测试数据，基于所述测试数据的原始坐标进行外观检测以获得相应的AOI数据；将所述测试数据和所述AOI数据进行合档得到合成档案；根据所述合成档案确定中心晶粒的坐标位置，在所述晶圆的坐标系中基于所述中心晶粒的坐标位置将所述晶圆划分为至少四个独立区域；计算各个所述独立区域内的晶粒良率，并将各所述独立区域的晶粒良率分别与预设良率阈值进行比较，以根据比较结果选择相应分选模式进行分选。通过本申请，不仅降低分选难度，有利于提升分选效率，缩短分选时长，以便提升产出能力，同时还减少分选设备的投入，有利于减少生产成本。

本发明授权LED芯片的分选方法、系统及计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种LED芯片的分选方法，其特征在于，包括： 获取晶圆的测试数据，基于所述测试数据的原始坐标进行外观检测以获得相应的AOI数据； 将所述测试数据和所述AOI数据进行合档得到合成档案； 根据所述合成档案确定中心晶粒的坐标位置，在所述晶圆的坐标系中基于所述中心晶粒的坐标位置将所述晶圆划分为至少四个独立区域； 计算各个所述独立区域内的晶粒良率，并将各所述独立区域的晶粒良率分别与预设良率阈值进行比较，以根据比较结果选择相应分选模式进行分选； 根据所述合成档案确定中心晶粒的坐标位置的步骤包括： 获取所述晶圆中相垂直的第一最长径线和第二最长径线，并以所述第一最长径线和所述第二最长径线相交点上的晶粒作为中心晶粒； 从所述合成档案中获取所述晶圆的定点坐标； 根据所述定点坐标与所述第一最长径线之间的第一晶粒数量，以及与所述第二最长径线之间的第二晶粒数量确定所述中心晶粒的坐标位置； 在所述晶圆的坐标系中基于所述中心晶粒的坐标位置坐标系将所述晶圆划分为至少四个独立区域的步骤包括： 以所述中心晶粒的坐标位置为原点坐标、所述第一最长径线和所述第二最长径线分别为Y轴和X轴构建坐标系； 根据所述坐标系的四个象限区域和所述晶圆的尺寸将所述晶圆划分为四个独立区域； 根据比较结果选择相应分选模式进行分选的步骤包括： 当任一所述独立区域的晶粒良率小于等于所述预设良率阈值时，对该独立区域内的晶粒以正分选模式进行分选； 当任一所述独立区域的晶粒良率大于所述预设良率阈值时，对该独立区域内的晶粒以反分选模式进行分选。

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