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中国工程物理研究院电子工程研究所张伟玮获国家专利权

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龙图腾网获悉中国工程物理研究院电子工程研究所申请的专利一种基于3D视觉的高反光零件定位检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116188581B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310197490.8,技术领域涉及:G06T7/73;该发明授权一种基于3D视觉的高反光零件定位检测方法是由张伟玮;尚振东;李凡设计研发完成,并于2023-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于3D视觉的高反光零件定位检测方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于3D视觉的高反光零件定位检测方法,首先.利用双目立体工业相机对检测区域进行拍摄,对得到的包含高反光零件的点云图像信息进行预处理,分离背景;然后对分离后的高反光零件点云图像信息进行修正,得到高反光零件在相机坐标系下的位置信息;再对高反光零件在相机坐标系下的位置信息进行坐标变换得到高反光零件的定位信息。本发明能够避免高反光区域的影响,实现对高反光零件的精确定位。

本发明授权一种基于3D视觉的高反光零件定位检测方法在权利要求书中公布了:1.一种基于3D视觉的高反光零件定位检测方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤1.获取高反光零件点云图像 利用双目立体工业相机对检测区域进行拍摄,对得到的包含高反光零件点云图像信息进行预处理,分离背景得到高反光零件点云图像; 步骤1具体包括以下分步骤: 步骤1.1对包含高反光零件的点云图像信息进行下采样,即构造一个三维体素栅格;三维体素栅格中,以每个体素内所有点的坐标均值来表征相应的体素,得到均值坐标点; 步骤1.2对下采样得到的均值坐标点云图像进行滤波处理; 步骤1.3对滤波后的点云图像中z轴数值大于设定阈值的所有点进行剔除得到背景分离后的图像,即高反光零件的点云图; 步骤2.对高反光零件点云图像进行修正 逐渐降低双目立体相机曝光系数,利用双目立体工业相机对检测区域进行拍摄,直至左相机或右相机获取的二维图像中对应高反光零件点云图像区域90%以上像素的灰度值在给定阈值范围内;进一步对二维图像进行阈值分割,对高反光零件点云图像进行修正; 步骤3.获取高反光零件在相机坐标系下的位置信息 基于修正后的高反光零件点云图像,得到高反光零件在相机坐标系下的质心位置信息; 步骤4.获取高反光零件在检测平台上的定位信息 对高反光零件在相机坐标系下的位置信息进行坐标变换得到高反光零件的定位信息。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国工程物理研究院电子工程研究所,其通讯地址为:621999 四川省绵阳市绵山路64号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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