柔博(上海)科技有限公司王兴获国家专利权
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龙图腾网获悉柔博(上海)科技有限公司申请的专利一种纳米位移测量设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223966039U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-03发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520824279.9，技术领域涉及：G01B11/02；该实用新型一种纳米位移测量设备是由王兴设计研发完成，并于2025-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种纳米位移测量设备在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种纳米位移测量设备，包括测量机壳和测试件，测量机壳一端设有光栅，光栅旁侧的测量机壳内壁设有反射镜，反射镜一侧还依次设有干涉场、光学放大成像系统和相位板，所述反射镜一端还设有图像传感器，测试件通过光栅旁侧的测量机壳内壁设有反射镜，反射镜一侧还依次设有干涉场、光学放大成像系统和相位板，本实用新型通过光栅旁侧的测量机壳内壁依次设有反射镜、干涉场、光学放大成像系统、相位板和图像传感器，利用相位板的特性，将透明物体的相位差转化为强度差，从而突出对比度差异，同时利用干涉原理进行高精度测量，能够精确测量试样表面高度微小的差别，以实现1纳米以下的位移分辨率，而且调试简单，稳定性好。
本实用新型一种纳米位移测量设备在权利要求书中公布了：1.一种纳米位移测量设备，包括测量机壳2和测试件12，其特征在于：所述测量机壳2下侧通过下支板3安装在底板1上，所述测量机壳2一端设有光栅17，所述光栅17旁侧的测量机壳2内壁设有反射镜18，所述反射镜18一侧还依次设有干涉场19、光学放大成像系统和相位板21，所述测量机壳2另一端还设有图像传感器23，所述测试件12通过立架设置在光栅17一侧。
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