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龙图腾网获悉胜达克半导体科技(上海)有限公司申请的专利一种半导体开短路测试机获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115808609B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211427293.2，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种半导体开短路测试机是由魏津;张经祥;胡雪原设计研发完成，并于2022-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体开短路测试机在说明书摘要公布了：本发明公开了一种半导体开短路测试机，本发明通过设置两个多路复用器，一个多路复用器的复用端连接参数测量单元通道的Force信号，另一个多路复用器的复用端连接参数测量单元通道的Sense信号，两个多路复用器的多路端按照顺序一一连接后共同连接至对应的测试通道，两个多路复用器可以独立控制，亦可实现配对使用。当独立控制时，两个多路复用器可以各自选通不同的测试通道，当配对使用时，两个多路复用器会同时选通同一个测试通道，相当于被选通的测试通道就近短接Force和Sense，可以实现远端SENSE，可以抵消线缆及线路压降造成的误差，实现更精准的电压输出和电压测量。在测试通道资源比较充裕，且对于测量电压精度要求比较高的情况下，可提高测试机性能。

本发明授权一种半导体开短路测试机在权利要求书中公布了：1.一种半导体开路测试机，其特征在于，包括： 主控背板，所述主控背板上设有多个插卡槽；以及， 多个插卡，所述多个插卡与所述插卡槽一一插接，所述插卡包括驱动模块和多个开关阵列模块； 所述驱动模块上设有多个参数测量单元通道，每个参数测量单元通道连接一个开关阵列模块，每个开关阵列模块设有多个测试通道，每个开关阵列模块包括两个多路复用器和多个单刀单掷模拟开关，一个多路复用器的复用端连接所述参数测量单元通道的Force信号，另一个多路复用器的复用端连接所述参数测量单元通道的Sense信号，两个多路复用器的多路端按照顺序一一连接后共同连接至对应的测试通道，两个多路复用器可以独立控制或者配对使用；当独立控制时，两个多路复用器各自选通不同的测试通道，当配对使用时，两个多路复用器会同时选通同一个测试通道；每个单刀单掷模拟开关的一端连接对应的测试通道，另一端接地； 每个驱动模块包括一个多通道PMU芯片和一个多通道ADC芯片，所述多通道PMU芯片和多通道ADC芯片配合形成多个参数测量单元； 每个插卡槽的控制信号包括：1组SPI总线用于连接所述多通道PMU芯片；1组SPI总线用于连接所述多通道ADC芯片；多组IIC总线分别连接多个开关阵列模块；多组GO-NoGO比较器输出信号，分别对应4个参数测量单元通道的GO-NoGO结果；以及4根闭环检测输出线； 每个开关阵列模块设有64个测试通道，并通过68芯排线引出；其中的64根排线连接64个测试通道；2根排线为闭环检测线，包括1根闭环检测输出线和1根闭环检测输入线；1根排线连接到开关阵列模块的地线网络，记为电源地；1根排线穿过所述开关阵列模块后连接到所述驱动模块，记为检测地； 所述开关阵列模块上使用GPIO扩展芯片来连接所述多路复用器和单刀单掷模拟开关的控制信号，每个开关阵列模块的控制端通过一组IIC接口总线来控制GPIO扩展芯片； 所述主控背板上设有FPGA主控芯片，所述FPGA主控芯片处理所有硬件层面的控制逻辑，FPGA主控芯片用独立的IO管脚分别连接多个插卡槽控制信号，所述FPGA主控芯片连接计算机系统，所述计算机系统处理所有软件层面的控制逻辑。

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