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龙图腾网获悉集美大学申请的专利一种基于变倍显微的铣刀涂层后缺陷检测方法与系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115876803B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310129514.6，技术领域涉及：G01N21/95；该发明授权一种基于变倍显微的铣刀涂层后缺陷检测方法与系统是由陈俊英;徐志伟;曹义涛;王博玄;阮权锋设计研发完成，并于2023-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于变倍显微的铣刀涂层后缺陷检测方法与系统在说明书摘要公布了：本发明公开变倍显微的铣刀涂层后缺陷检测方法与系统，涉及涂层缺陷检测技术领域。显微镜以第一倍数针对涂层拍摄得到的初始图像；对初始图像进行缺陷区域识别得到涂层的缺陷识别信息；根据缺陷区域的尺寸确定进行缺陷深度测量时显微镜所需的第二倍数；根据位置信息，将缺陷位移至第二倍数下显微镜的视场中心，控制显微镜沿垂直于涂层表面的方向进行位移，在位移过程中对涂层进行垂直扫描以得到多张图像作为系列图像；计算每一系列灰度图像的数字图像熵；根据数字图像熵确定出缺陷的顶部和底部；基于顶部和底部所对应的垂直方向位置得到缺陷的深度。本发明实现了涂层缺陷检测的测量范围与测量精度兼顾，提高了涂层缺陷检测的效率。

本发明授权一种基于变倍显微的铣刀涂层后缺陷检测方法与系统在权利要求书中公布了：1.一种基于变倍显微的铣刀涂层后缺陷检测方法，其特征在于， 所述方法包括： 获取显微镜以第一倍数针对涂层拍摄得到的初始图像；所述初始图像包括整个涂层；所述初始图像为RGB彩色图像； 对所述初始图像进行缺陷区域识别，得到所述涂层的缺陷识别信息；所述缺陷识别信息包括：表征所述涂层不存在缺陷的第一信息；或者，表征所述涂层存在缺陷的第二信息，以及，该缺陷在所述初始图像中所对应的缺陷区域的尺寸和位置信息； 在识别出所述涂层存在缺陷后，根据所述缺陷区域的尺寸，确定进行缺陷深度测量时所述显微镜所需的第二倍数；所述第二倍数大于所述第一倍数； 根据所述位置信息，将缺陷位移至所述第二倍数下所述显微镜的视场中心；在所述缺陷位于所述第二倍数下所述显微镜的视场中心时，控制所述显微镜沿垂直于所述涂层表面的方向进行位移，在位移过程中对所述涂层进行垂直扫描，以得到多张图像作为系列灰度图像； 计算每一系列灰度图像的数字图像熵； 根据计算得到的数字图像熵，确定出所述缺陷的顶部和底部； 基于所述顶部和底部所对应的垂直方向位置，得到所述缺陷的深度。

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