紫光同芯微电子有限公司马元春获国家专利权
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龙图腾网获悉紫光同芯微电子有限公司申请的专利用于测试电子卡故障的方法及装置、电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116027172B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211674874.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权用于测试电子卡故障的方法及装置、电子设备是由马元春;陈凝;胡博设计研发完成，并于2022-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于测试电子卡故障的方法及装置、电子设备在说明书摘要公布了：本申请涉及电子卡故障测试技术领域，公开一种用于测试电子卡故障的方法，包括：对电子卡进行开短路测试以检测电子卡的断线故障；在电子卡不存在断线故障的情况下，对电子卡进行电压测试以检测电子卡的分裂故障；在电子卡存在分裂故障的情况下，对电子卡进行光线测试以检验电子卡的分裂故障。依次通过开短路测试、电压测试和光线测试的方式检测电子卡故障，无需测试人员人工进行故障观察研判，能够减少误判的情况发生，提高电子卡故障检测的准确性。本申请还公开一种用于测试电子卡故障的装置及电子设备。
本发明授权用于测试电子卡故障的方法及装置、电子设备在权利要求书中公布了：1.一种用于测试电子卡故障的方法，其特征在于，包括： 对电子卡进行开短路测试以检测所述电子卡的断线故障； 在所述电子卡不存在断线故障的情况下，对所述电子卡进行电压测试以检测所述电子卡的分裂故障； 在所述电子卡存在分裂故障的情况下，对所述电子卡进行光线测试以检验所述电子卡的分裂故障； 其中，分裂故障包括裂片故障或分层故障；对电子卡进行电压测试以检测电子卡的分裂故障，包括： 获得所述电子卡所在测试支路的输出电压的实际电压波动差值；确定预设时长内的目标电压波动差值的数量；其中，所述目标电压波动差值为所述实际电压波动差值中的大于或等于预设电压差值的电压波动差值；在所述目标电压波动差值的数量大于或等于数量阈值的情况下，确定所述电子卡存在裂片故障；或者，在所述目标电压波动差值的数量小于数量阈值的情况下，获得所述电子卡所在测试支路的输出电压的低电压值；在所述低电压值异常的情况下，确定所述电子卡存在分层故障。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人紫光同芯微电子有限公司，其通讯地址为：100083 北京市海淀区王庄路1号院清华同方科技大厦D座6层0611-06号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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