炬芯科技股份有限公司杜夔获国家专利权
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龙图腾网获悉炬芯科技股份有限公司申请的专利芯片测试方法、系统和SOC芯片获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116338415B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111592820.0,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权芯片测试方法、系统和SOC芯片是由杜夔设计研发完成,并于2021-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试方法、系统和SOC芯片在说明书摘要公布了:本申请公开一种芯片测试方法、系统和SOC芯片,其中芯片测试方法包括由待测芯片执行的如下步骤:向测试设备发送第一测试数据;获取所述测试设备针对所述第一测试数据反馈的第二测试数据;根据所述第二测试数据测试本芯片。本申请能够使测试设备适用于不同类别的SOC芯片测试,提升相应测试方案的兼容性和灵活性。
本发明授权芯片测试方法、系统和SOC芯片在权利要求书中公布了:1.一种芯片测试方法,其特征在于,待测芯片上设有芯片测试系统,所述芯片测试系统作为所述待测芯片的USB2.0DRP模块,以使所述待测芯片主导与对应测试设备之间的测试工作,所述芯片测试方法包括由所述待测芯片执行,所述待测芯片在进入正式的测试工作之前,与所述测试设备进行通信工作,以确定两者之间的通信链路可靠;包括如下步骤: S110,向所述测试设备发送第一测试数据; S120,获取所述测试设备针对所述第一测试数据反馈的第二测试数据; S130,根据所述第二测试数据测试本芯片。
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