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龙图腾网获悉京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司申请的专利图像处理方法、装置、平板探测器、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116416188B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111662769.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权图像处理方法、装置、平板探测器、设备及存储介质是由赵镇乾;徐帅设计研发完成，并于2021-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本图像处理方法、装置、平板探测器、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开一种图像处理方法、装置、平板探测器、设备及存储介质。其中一实施例的方法应用于平板探测器，平板探测器包括用于采光的第二像素以及分别位于第二像素列方向两侧的第一像素和第三像素，第一像素和第三像素不采光。所述方法包括：根据第一参考图像确定第一参考值，第一参考图像为平板探测器基于第一扫描时间生成的；获取平板探测器处于自动曝光检测模式下，在第二扫描时间内生成的第二参考图像，并根据所述第二参考图像确定第二参考值；根据所述第一参考值和所述第二参考值对所述平板探测器生成的待处理图像进行补偿，所述待处理图像包括沿行方向延伸的分界线。本发明实施例的方法能够消除待处理图像中的分界线。

本发明授权图像处理方法、装置、平板探测器、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种图像处理方法，其特征在于，应用于平板探测器，所述平板探测器包括用于采光的第二像素以及分别位于所述第二像素列方向两侧的第一像素和第三像素，所述第一像素和第三像素不采光； 所述方法包括： 根据第一参考图像确定第一参考值，所述第一参考图像为所述平板探测器基于第一扫描时间生成的； 获取平板探测器处于自动曝光检测模式下，在第二扫描时间内生成的第二参考图像，并根据所述第二参考图像确定第二参考值，其中，在平板探测器处于自动曝光检测模式下所述第二参考图像在发生曝光时的第二像素行的位置处形成分界线； 根据所述第一参考值和所述第二参考值对所述平板探测器生成的待处理图像进行补偿，所述待处理图像包括沿行方向延伸的分界线； 所述根据第一参考图像确定第一参考值进一步包括： 确定所述第一参考图像中所述第一像素的第一平均灰度值和所述第二像素的第二平均灰度值； 根据所述第一平均灰度值和所述第二平均灰度值得到所述第一参考值； 所述获取平板探测器处于自动曝光检测模式下，在第二扫描时间内生成的第二参考图像，并根据所述第二参考图像确定第二参考值，进一步包括： 以所述第二参考图像的分界线为分区行，得到所述分区行朝向所述第一像素的第一积分区域的第三平均灰度值以及所述分区行朝向所述第三像素的第二积分区域的第四平均灰度值，其中，列方向上位于第一行的第一像素到所述分区行对应的第二像素形成所述第一积分区域，列方向上位于最后一行的第三像素到与所述分区行相邻的第二子像素形成所述第二积分区域，所述第一积分区域和第二积分区域不重叠； 根据所述第三平均灰度值和第四平均灰度值确定所述第二参考值。

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