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中国计量科学研究院徐楠获国家专利权

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龙图腾网获悉中国计量科学研究院申请的专利低发散角依赖的光电探测器及定标系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118624014B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410884402.6,技术领域涉及:G01J1/42;该发明授权低发散角依赖的光电探测器及定标系统是由徐楠;刘志伟;刘想靓;林延东;樊其明;孟海凤;甘海勇设计研发完成,并于2024-07-03向国家知识产权局提交的专利申请。

低发散角依赖的光电探测器及定标系统在说明书摘要公布了:本发明涉及光学仪器技术领域,提供一种低发散角依赖的光电探测器及定标系统,其中,低发散角依赖的光电探测器包括第一光电二极管、第二光电二极管和凹面镜,第一光电二极管具有第一光敏平面;第二光电二极管具有第二光敏平面;凹面镜具有相互背离的后平面和前凹面,前凹面朝向第二光电二极管,第一光敏平面和第二光敏平面互成角度设置,后平面与第二光敏平面互成角度设置,以在第一光电二极管、第二光电二极管和凹面镜之间形成光陷阱。本申请实现准直光一次定标响应度即可实现该探测器应用于不同发散角的光测量场景。

本发明授权低发散角依赖的光电探测器及定标系统在权利要求书中公布了:1.一种低发散角依赖的光电探测器,其特征在于,包括: 第一光电二极管,所述第一光电二极管具有第一光敏平面; 第二光电二极管,所述第二光电二极管具有第二光敏平面; 凹面镜,所述凹面镜具有相互背离的后平面和前凹面,所述前凹面朝向所述第二光电二极管,所述第一光敏平面和所述第二光敏平面互成角度设置,所述后平面与所述第二光敏平面互成角度设置,以在所述第一光电二极管、所述第二光电二极管和所述凹面镜之间形成光陷阱; 所述第一光敏平面与所述第二光敏平面相对且错位平行设置,所述前凹面与所述第二光敏平面相对设置; 所述第一光电二极管与所述第二光电二极管之间的间距小于或等于10mm; 所述第二光电二极管与所述凹面镜之间的间距小于或等于10mm; 所述低发散角依赖的光电探测器还包括入射口,所述入射口所在的平面与所述后平面相互平行,所述入射口与所述第一光敏平面对应设置; 在发散光束入射的条件下,光束经过第一光敏平面吸收后的小部分反射光入射到第二光敏平面,经第二光敏平面吸收后的部分反射光垂直入射凹面镜,光斑大小在此发散角条件下是越来越大的,经过凹面镜汇聚反射后获得小发散角或平行光束,再分别经过第二光敏平面和第一光敏平面的吸收与小部分反射后返回入射口,使得在此发散角以内的入射光束,不管是平行光还是发散光,其反射光束均被第一光敏平面与第二光敏平面全接收,只有极小部分返回入射光口,从而实现了不依赖发散角的接收系统。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国计量科学研究院,其通讯地址为:100029 北京市朝阳区北三环东路18号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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