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龙图腾网获悉中国计量科学研究院申请的专利基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118818589B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410863464.9，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统是由郭思明;李知微;王振设计研发完成，并于2024-06-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统，方法将单能X射线装置对准标准探测器并设置，检测预设时间内的单能峰的计数；结合探测效率得到单能X射线装置的输出；保持设置不变，将单能X射线装置对准待测电离室设备，记录待测电离室设备初始阶段的电荷值、单能X射线装置开启预设时间后的电荷值；计算累积电荷；将待测电离室设备的累积电荷除以单能X射线装置的输出，得到当前的能量响应；调整输出值，重复前述步骤，获得预设能量范围内的能量响应曲线。方案能快速精确地对电离室的能量范围与能量响应的测试，可避免标准源因放射源自身和环境限制以及蒙特卡罗模拟因无法获取精确的探测器参数而导致偏差的缺点。

本发明授权基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于单能X射线的电离室能量响应测量方法，其特征在于，包括： S1：将单能X射线装置对准标准探测器，设置单能X射线装置，检测预设时间内的单能峰的计数；由计数与标准探测器探测效率计算得到单能X射线装置的输出； S2：保持单能X射线装置设置不变，将单能X射线装置对准待测电离室设备，记录待测电离室设备的初始阶段电荷、单能X射线装置开启预设时间后的电荷； S3：计算检测待测电离室在预设时间内的累积电荷； S4：将待测电离室设备的累积电荷除以单能X射线装置的输出，得到当前的能量响应； S5：调整单能X射线装置的输出值，重复前述所有步骤，获得预设能量范围内的能量响应曲线； 还包括步骤： 检测当前实验环境的温度及气压，通过温度及气压计算获得温度气压修正因子，以将数据修正至标准温度及气压环境下，进而使用温度气压修正因子修正温度及气压对累积电荷带来的误差； 采用的温度气压修正因子的计算公式为：其中，为标准气压，为标准温度； 使用温度气压修正因子与累积电荷相乘，以修正温度T及气压P对累积电荷带来的误差； 还包括步骤： 检测待测电离室设备预设时间内的漏电电荷QL； 计算检测待测电离室在预设时间内的累积电荷Qs=Q1-Q0-QL； Q0为初始阶段的电荷值，Q1为单能X射线装置开启预设时间后的电荷值，Qs为累积电荷。

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