瑞芯微电子股份有限公司湛厚超获国家专利权
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龙图腾网获悉瑞芯微电子股份有限公司申请的专利IO采样方法和装置、电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119002789B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411175575.7，技术领域涉及：G06F3/05；该发明授权IO采样方法和装置、电子设备是由湛厚超;黄杨国;姜楠设计研发完成，并于2024-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本IO采样方法和装置、电子设备在说明书摘要公布了：本公开提供IO采样方法和装置、电子设备。所述IO采样方法包括：接收IO输入信号；根据时钟周期信号对所述IO输入信号进行上升沿采样和下降沿采样以得到上升沿采样信号和下降沿采样信号；将所述上升沿采样信号和所述下降沿采样信号进行比较以得到比较结果；根据所述比较结果在已输出的上一次采样信号和当前采样信号中选择一个待输出信号，所述当前采样信号为所述上升沿采样信号或所述下降沿采样信号；以及将所述待输出信号输出作为与所述IO输入信号相对应的采样信号。本公开技术方案可以提升信号多毛刺和多抖动场景下的IO采样正确率。
本发明授权IO采样方法和装置、电子设备在权利要求书中公布了：1.一种IO采样方法，其特征在于，包括： 接收IO输入信号； 根据时钟周期信号对所述IO输入信号进行上升沿采样和下降沿采样以得到上升沿采样信号和下降沿采样信号，使得在所述IO输入信号中包含抖动或毛刺时所述上升沿采样信号不同于所述下降沿采样信号，所述时钟周期信号的时钟周期长度的一半大于所述IO输入信号中包含的抖动或毛刺的宽度； 将所述上升沿采样信号和所述下降沿采样信号进行比较以得到比较结果； 根据所述比较结果在已输出的上一次采样信号和当前采样信号中选择一个待输出信号，所述当前采样信号为所述上升沿采样信号或所述下降沿采样信号；以及 将所述待输出信号输出作为与所述IO输入信号相对应的采样信号。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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