中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司;中科慧远半导体技术(广东)有限公司张武杰获国家专利权
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龙图腾网获悉中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司;中科慧远半导体技术(广东)有限公司申请的专利偏位缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119599941B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411474543.7,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权偏位缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质是由张武杰设计研发完成,并于2024-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本偏位缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本申请提供了一种偏位缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括获取预先标注的缺陷图像,得到训练集,对缺陷图像进行处理,得到处理数据,利用处理数据对预构建的初始分割模型的初始损失函数进行优化,得到目标损失函数,从而对初始分割模型进行训练,得到目标分割模型;将待测图像输入所述目标分割模型,得到待测零件零件区域及待测零件基准区域的边缘位置;基于待测零件零件区域及所述待测零件基准区域的边缘位置,确定待测零件是否存在偏位缺陷。本申请对现有的分割模型的损失函数进行更新,从而得到目标分割模型,从而利用目标分割模型能够对产品的边缘区域能够准确提取分割,提高了检测偏位缺陷的准确度。
本发明授权偏位缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种偏位缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括: 获取预先标注的缺陷图像,得到训练集; 对所述预先标注的缺陷图像进行处理,得到处理数据; 基于所述处理数据对预构建的初始分割模型的初始损失函数进行优化,得到目标损失函数; 基于所述训练集以及所述目标损失函数对所述初始分割模型进行训练,得到目标分割模型; 将待测零件的待测图像输入所述目标分割模型,得到所述待测零件零件区域及所述待测零件基准区域的边缘位置; 基于所述待测零件零件区域及所述待测零件基准区域的边缘位置,确定所述待测零件是否存在偏位缺陷; 所述基于所述处理数据对预构建的初始分割模型的初始损失函数进行优化,得到目标损失函数,包括:获取所述初始损失函数,所述初始损失函数用于表征所述初始分割模型对缺陷图像进行计算后得到的分割结果与预先标注的缺陷图像之间每个像素点的差异;基于所述初始损失函数确定所述处理数据中的缺陷图像的像素值为预设值的像素点位置;确定所述像素点位置的像素点与预先标注的缺陷图像的像素点之间的像素点差异值,舍弃所述像素点差异值低于第一阈值的像素点差异值;基于预设的倍率系数和舍弃后剩余的像素点差异值对所述初始损失函数进行更新,得到目标损失函数; 采用以下方式计算目标损失函数, 其中,Loss为目标损失函数,i为缺陷图像中每个像素点的横坐标,j为缺陷图像中每个像素点的纵坐标,n为图像个数,w为缺陷图像的宽度,h为缺陷图像的高度,为初始分割模型的分析结果和预先标注的缺陷图像在ij这个像素点位置上像素点的差异,为初始分割模型的分析结果在ij这个像素点位置上像素点,为预先标注的缺陷图像在ij这个像素点位置上像素点,为训练接中缺陷图像在ij这个像素点位置上像素点,为目标分割模型的分析结果和预先标注的缺陷图像在ij这个像素点位置上像素点的差异。
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