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龙图腾网获悉华东师范大学申请的专利用于强磁场傅立叶红外光谱装置的横向磁场构型光学系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121164224B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511727239.3，技术领域涉及：G01N21/35；该发明授权用于强磁场傅立叶红外光谱装置的横向磁场构型光学系统是由袁翔;施泽平;吴闻彬;徐辰尧设计研发完成，并于2025-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于强磁场傅立叶红外光谱装置的横向磁场构型光学系统在说明书摘要公布了：一种用于强磁场傅立叶红外光谱装置的横向磁场构型光学系统，包括用于所述强磁场傅立叶红外光谱装置的螺线管超导磁体管状样品腔，内置于所述螺线管超导磁体管状样品腔内的无磁减震套筒。所述无磁减震套筒内上部设有无磁镜面镀金光波导，下部设有横向磁场构型光学模块，所述横向磁场构型光学模块内设有可调样品承载台，所述可调样品承载台与横向磁场构型光学系统外的减速步进电机相连，所述无磁镜面镀金光波导包括输入探测光的入光波导和输出信号光的出光波导。所述横向磁场构型光学模块包含横向磁场构型反射模块与横向磁场构型透射模块，分别适配不同的强磁场傅立叶红外光谱测量需求。本发明提出了一种能够实现横向磁场构型磁光谱测量的光学系统。

本发明授权用于强磁场傅立叶红外光谱装置的横向磁场构型光学系统在权利要求书中公布了：1.一种用于强磁场傅立叶红外光谱装置的横向磁场构型光学系统，包括一无磁减震套筒2，所述无磁减震套筒2内上部设有无磁镜面镀金光波导1，所述无磁镜面镀金光波导1包括输入探测光的入光波导11和输出信号光的出光波导12，所述横向磁场构型光学系统外部连接有减速步进电机，其特征在于，所述无磁减震套筒2内下部设有横向磁场构型光学模块3，所述横向磁场构型光学模块3内设有可调样品承载台4，所述可调样品承载台4为可调反射样品承载台41或可调透射样品承载台42；所述可调样品承载台4与横向磁场构型光学系统外的减速步进电机相连，所述横向磁场构型光学模块3为反射模块31，或者为透射模块32；所述反射模块31，其底部设有第一离轴抛物面反射镜311与第二离轴抛物面反射镜312，所述第一离轴抛物面反射镜311的平行光侧主光轴与所述入光波导11同轴；所述第二离轴抛物面反射镜312的平行光侧主光轴与所述出光波导12同轴；所述第一离轴抛物面反射镜311、第二离轴抛物面反射镜312形成的对称面与所述入光波导11、出光波导12形成的对称面为同一个对称面；在所述对称面上设置一石墨涂层无磁遮光板313；所述可调反射样品承载台41中心与待测样品位于所述对称面上；所述第一离轴抛物面反射镜311、第二离轴抛物面反射镜312在待测样品处共焦，二者聚焦侧主光轴不共线；所述石墨涂层无磁遮光板313侧缘与可调反射样品承载台41之间有间隔；所述透射模块32，其底部设有第三离轴抛物面反射镜321与第四离轴抛物面反射镜322，所述第三离轴抛物面反射镜321的平行光侧主光轴与所述入光波导11同轴；所述第四离轴抛物面反射镜322的平行光侧主光轴与所述出光波导12同轴；所述第三离轴抛物面反射镜321、第四离轴抛物面反射镜322形成的对称面与所述入光波导11、出光波导12形成的对称面为同一个对称面；所述可调透射样品承载台42处于所述对称面上；所述第三离轴抛物面反射镜321、第四离轴抛物面反射镜322在待测样品处共焦，二者聚焦侧主光轴共线；所述可调透射样品承载台42上的待测样品位于所述第三离轴抛物面反射镜321和所述第四离轴抛物面反射镜322重合的焦点处。

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